[发明专利]光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法

权利要求书

1.一种光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法，其特征在于，

根据通过光纤的双向OTDR测量而得到的2个后方散射光的位置x处的2个后方散射光强度计算出算术平均值I(x)，

根据由所述算术平均值算出的所述位置x处的模场直径2W(x)与相对折射率差Δ(x)，得到所述位置x处的弯曲损耗值。

2.根据权利要求1所述的光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法，其特征在于，

在得到所述弯曲损耗值时，将成为测量对象的光纤看作具有与所述光纤的折射率分布等效的阶梯型折射率分布的光纤，

从具有所述阶梯型折射率分布的光纤的标准化频率V、纤芯半径a与所述模场直径2W的关系式，算出所述位置x处的所述弯曲损耗值。

3.根据权利要求1或2所述的光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法，其特征在于，

在得到所述位置x处的所述模场直径2W(x)时，使用所述光纤中的任意选择的2点参照点处的所述模场直径，根据所述算术平均值I(x)得到所述模场直径2W(x)。

4.一种光纤实际的弯曲损耗的长度方向分布的测量方法，其特征在于，

使用通过权利要求1～3中任意一项所述的方法而得到的弯曲损耗的长度方向分布、与在所述长度方向上任意选择的点处实际测量到的弯曲损耗的值，得到所述长度方向上的所述位置x处的实际的弯曲损耗值。

5.一种光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法，其特征在于，

使用根据通过光纤的双向OTDR测量而得到的2个后方散射光波形的位置x处的2个后方散射光强度算出的算术平均值I(x)，导出模场直径2W(x)，

基于预先求得的模场直径2W(x)与弯曲损耗值的相关关系，求出所述位置x处的弯曲损耗值。

6.根据权利要求1～5中任意一项所述的光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法，其特征在于，

测量对象的光纤由弯曲损耗改善型光纤构成。

7.根据权利要求6所述的光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法，其特征在于，

所述弯曲损耗改善型光纤是带空孔的光纤、带槽的光纤或者带微细气泡的光纤。

8.根据权利要求1～7中任意一项所述的光纤弯曲损耗的长度方向分布的测量方法，其特征在于，

光纤被铺设。

9.一种光线路的试验方法，其特征在于，

使用权利要求1～8中任意一项所述的测量方法，检测并确定被铺设的光线路的弯曲损耗的缺陷位置。

10.一种光缆的制造方法，其特征在于，

由光纤线制造光缆，

通过使用权利要求1～8中任意一项所述的测量方法，检测所述被制造的光缆的弯曲损耗的缺陷位置，来测量所述被制造的光缆的特性。

11.一种光纤软线的制造方法，其特征在于，

由光纤线制造光纤软线，

通过使用权利要求1～8中任意一项所述的测量方法，检测所述被制造的光纤软线的弯曲损耗的缺陷位置，来测量所述被制造的光纤软线的特性。

12.一种光纤线的制造方法，其特征在于，

制造光纤线，

通过使用权利要求1～8中任意一项所述的测量方法，检测所述被制造的光纤线的弯曲损耗的缺陷位置，来测量所述被制造的光纤线的特性。