[发明专利]动电路以及具备该驱动电路的半导体装置有效
| 申请号: | 201110223636.9 | 申请日: | 2011-08-05 | 
| 公开(公告)号: | CN102457163A | 公开(公告)日: | 2012-05-16 | 
| 发明(设计)人: | 井上贵公;折田昭一;玉木恒次 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 | 
| 主分类号: | H02M1/08 | 分类号: | H02M1/08 | 
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 毛立群;王忠忠 | 
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电路 以及 具备 驱动 半导体 装置 | ||
1.一种驱动电路,搭载于IC芯片,驱动半导体开关元件,其中,具备:
电源电路,接收从所述IC芯片外部的单一电源供给的第1电压,根据该第1电压生成第2电压,将其施加到所述半导体开关元件的基准端子;以及
驱动部,根据来自所述IC芯片外部的输入信号,对所述半导体开关元件的控制端子施加/不施加所述第1电压,由此驱动所述半导体开关元件,
所述电源电路具备:缓冲放大器,对所述半导体开关元件的控制端子驱动电流进行拉/灌。
2.根据权利要求1所述的驱动电路,其中,
所述半导体开关元件具备:感测端子,流过相对于主电流是预定比率的感测电流,
所述驱动电路还具备:过电流检测电路,在所述感测电流超过预定的阈值的情况下,停止对所述半导体开关元件的控制端子的电压施加。
3.根据权利要求2所述的驱动电路,其中,
还具备:感测电阻,连接在所述感测端子-所述基准端子间,产生所述感测电流引起的电压降,
所述过电流检测电路具有:比较器,将基准电位与所述半导体开关元件设为是共同的,且在正相输入连接有所述感测端子。
4.根据权利要求2所述的驱动电路,其中,
还具备:感测电阻,连接在所述感测端子-所述基准端子间,产生所述感测电流引起的电压降,
所述过电流检测电路具有:比较器,将基准电位与所述单一电源设为是共同的,且在正相输入连接有所述感测端子。
5.根据权利要求2所述的驱动电路,其中,
还具备:感测电阻,连接在所述感测端子-所述基准端子间,产生所述感测电流引起的电压降,
所述过电流检测电路具有:差动放大器,输入端子连接在所述感测电阻的两端。
6.一种半导体装置,其特征在于,在搭载有权利要求1~5的任一项所述的驱动电路的所述IC芯片中,一起搭载有所述驱动电路驱动的所述半导体开关元件。
7.根据权利要求6所述的半导体装置,其中,所述半导体开关元件由宽带隙半导体构成。
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