[发明专利]缩放手势判断方法及触控感应控制芯片

说明书

技术领域

本发明涉及一种缩放手势判断方法及触控感应控制芯片，特别涉及一种可用于一自容式(self-capacitative)触控感应装置的缩放手势判断方法，及相关触控感应控制芯片。

背景技术

触控装置具有操作方便、反应速度快及节省空间的优点，能提供使用者更直觉与便利的操控方式，因而成为重要的输入介面，广泛地用于各式的消费性电子产品中。具体而言，触控装置是由一感测电路及多条以矩阵方式排列的走线，感测电路可感测这些走线的电气信号，并将之转换为数位形式的感应数据值，以判读触碰事件。然而，现有触控装置主要适用于单点触控，若针对多点触控的情况时，将可能面临误判的问题。

举例来说，请参考图1，图1为现有一投射电容感应装置10的示意图。投射电容感应装置10包括有感应电容串列X₁～X_m与Y₁～Y_n，每一感应电容串列是由多个感应电容所串接成的一维结构。现有触控检测方式为检测每一感应电容串列的电容值，来判断是否有触控事件发生。假设感应电容串列X₁有a个感应电容，每一感应电容的电容值为C，则正常情况下，感应电容串列X₁的电容值为aC。若人体(例如手指)接触到感应电容串列X₁上的某一感应电容时的电容变化量为ΔC，当检测到感应电容串列X₁的电容值为(aC+ΔC)时，即表示目前手指正接触于感应电容串列X₁上的某处。然而，针对多点触控的情况，如图1所示，由于同时有两只手指接触到投射电容感应装置10，感应电容串列X₃、X_m-1、Y₃、Y_n-1会同时感应到电容变化，因而将会判断成在(X₃，Y₃)、(X₃，Y_n-1)、(X_m-1，Y₃)、(X_m-1，Y_n-1)处有触控事件发生。但是，实际上，仅有(X₃，Y₃)与(X_m-1，Y_n-1)为真实触控点，而(X₃，Y_n-1)、(X_m-1，Y₃)并非真实触控点。在此情况下，投射电容感应装置10发生错误判断的结果，而使检测结果误报了两个非真实触控点，也就是导致了所谓幽灵键(ghost key)的情况。因此，当有多点触控的情形时(如进行缩放手势时)，仅能得知有哪些感应电容串列的交会处可能有触控事件发生，而无法确实判断出真实触控点及缩放手势。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种缩放手势判断方法及一种触控感应控制芯片。

为达成上述目的，本发明公开一种缩放手势判断方法，用于一触控感应装置。该缩放手势判断方法包括有检测一第一触控点及一第二触控点，判断该第一触控点及一第二触控点之间的一位置差值，以及根据该位置差值的变化，决定该第一触控点与该第二触控点所代表的一缩放手势。

为达成上述目的，本发明还公开一种触控感应控制芯片，用于一触控感应装置。该触控感应控制芯片包括有一检测单元，用来检测一第一触控点及一第二触控点，一判断单元，用来判断该第一触控点及一第二触控点之间的一位置差值，以及一决定单元，用来根据该位置差值的变化，决定该第一触控点与该第二触控点所代表的一缩放手势。

附图说明

图1为现有一投射电容感应装置的示意图。

图2为依据一实施例的一触控感应系统的方块架构图。

图3为图2中的触控感应控制芯片检测两触控点之间的一位置差值的示意图。

图4A、4B为图2中的触控感应芯片搭配自容感应的触控感应装置时可能出现误判情形的示意图。

图5为依据一实施例的一缩放手势判断流程。

图6为依据一实施例的一反弹跳机制流程。

图7为依据一实施例的一计算机系统的方块架构图。

其中，附图标记说明如下：

10                                         投射电容感应装置

20                                         触控感应系统