[发明专利]观察厚组织三维结构的方法

权利要求书

1.一种观察厚组织三维结构的方法，其特征在于，包括：

提供一待扫描的厚组织，其中所述厚组织经过光学澄清技术处理进而容许反映其结构的光信号穿透；

提供一光学扫描显微镜，用以撷取所述厚组织的影像；

提供一移除装置，用以移除部分所述厚组织；

以所述光学扫描显微镜自所述厚组织的表面撷取所述厚组织的影像，之后渐次增加该光学扫描显微镜的取像深度，以撷取所述厚组织表面以下各深度平面的影像；

以所述光学扫描显微镜所撷取的各深度平面的影像清晰度决定出距离所述厚组织表面的一扫描深度；

在所述扫描深度上方的一特定距离决定出一移除平面；

以所述移除装置移除所述移除平面以上的所述厚组织后，继续撷取所述厚组织更深层的影像。

2.如权利要求1所述的观察厚组织三维结构的方法，其特征在于，先执行撷取影像后再移除部分所述厚组织。

3.如权利要求1所述的观察厚组织三维结构的方法，其特征在于，所述厚组织经过光学澄清溶液的处理。

4.如权利要求1所述的观察厚组织三维结构的方法，其特征在于，所述厚组织包含动物组织、植物组织、人造组织或生物材料。

5.如权利要求1所述的观察厚组织三维结构的方法，其特征在于，所述光学扫描显微镜包含共轭焦激光显微镜、多光子激光显微镜、或其它可撷取特定光学切片的光学扫描显微镜。

6.如权利要求1所述的观察厚组织三维结构的方法，其特征在于，所述移除装置的移除方法包含机械式切除、激光切除、化学腐蚀、烧灼。

7.如权利要求1所述的观察厚组织三维结构的方法，其特征在于，所述扫描深度为观察者定义所观察清楚影像的极限。

8.一种观察厚组织三维结构的方法，其特征在于，包括；

提供一待扫描的厚组织，其中所述厚组织容许反映其结构的信号穿透；

提供一光学扫描显微镜，用以撷取所述厚组织的影像；

提供一移除装置，用以移除部分所述厚组织；

执行以下步骤多次，以撷取完整的所述厚组织的三维影像：

以所述光学扫描显微镜自所述厚组织的表面撷取所述厚组织的影像，之后渐次增加该光学扫描显微镜的取像深度，以撷取所述厚组织表面以下各深度平面的影像；

以所述光学扫描显微镜所撷取的各深度平面的影像清晰度决定出距离所述厚组织表面的一扫描深度；

在所述扫描深度上方的一特定距离决定出一移除平面；

以所述移除装置移除所述移除平面以上的所述厚组织后，继续撷取所述厚组织更深层的影像。

9.如权利要求8所述的观察厚组织三维结构的方法，其特征在于，先执行撷取影像后再移除所述厚组织，且所述移除平面的深度小于所述扫描深度。

10.一种观察厚组织三维结构的方法，其特征在于，包括：

提供一待扫描的厚组织，其中所述厚组织容许反映其结构的信号穿透；

提供一影像撷取装置，用以撷取所述厚组织的影像；

提供一移除装置，用以移除部分所述厚组织；

以所述影像撷取装置自所述厚组织的表面撷取所述厚组织的影像，之后渐次增加所述影像撷取装置的取像深度，以撷取所述厚组织表面以下各深度平面的影像；

以所述影像撷取装置所撷取的各深度平面的影像清晰度决定出距离所述厚组织表面的一扫描深度；

在所述扫描深度上方的一特定距离决定出一移除平面；

以所述移除装置移除所述移除平面以上的所述厚组织后，继续撷取所述厚组织更深层的影像。