[发明专利]一种压力传感器检测装置有效
申请号: | 201110200427.2 | 申请日: | 2011-07-18 |
公开(公告)号: | CN102889962A | 公开(公告)日: | 2013-01-23 |
发明(设计)人: | 刘若智;曹清波;陈金华 | 申请(专利权)人: | 上海芯哲微电子科技有限公司 |
主分类号: | G01L25/00 | 分类号: | G01L25/00;G01L1/18 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 王敏杰 |
地址: | 201400 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 压力传感器 检测 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种检测装置,尤其是一种压力传感器检测装置。
背景技术
公知的压力传感器一般是利用单晶硅材料的压阻效应和集成电路技术制成的压阻压力传感器传感器。压阻压力传感器由于其工作方式的特殊性,使得其封装外形与传统的芯片外形存在不同,加之实际应用环境以及供应厂商的区别导致每种压阻压力传感器的外形差异也很大。在集成电路测试系统内,每种压阻压力传感器测试的实际需求量不大,但大多数的压阻压力传感器测试的电气性能参数差异基本不大。如果为每种不同封装外形的压阻压力传感器均配置一套检测装置会造成极大的资源浪费,但是不配置又会造成某些封装外形的压阻压力传感器无法进行检测。
发明内容
针对公知的压阻压力传感器检测中存在的问题,本发明提供一种压力传感器检测装置。
本发明解决技术问题所采用的技术手段为:
一种压力传感器检测装置,包括测试装置和测试结果显示装置,所述测试装置包括输出接口,所述输出接口与所述测试结果显示装置连接,其中,所述测试装置上设有多个测试位置,所述测试结果显示装置上设有与所述多个测试位置对应的多个结果显示单元,所述多个测试位置各自通过所述输出接口与其对应的所述结果显示单元连接,每对相互对应的所述测试位置和所述结果显示单元组成测试单元。
上述压力传感器检测装置,其中,还包括与所述多个测试单元对应的多个独立电力供应模块,所述多个独立电源供应模块各自与其对应的测试单元连接,形成多个回路。
上述压力传感器检测装置,其中,所述测试装置包括压力生成部件,所述压力生成部件包括施压端,所述施压端与所述多个测试位置连接。
上述压力传感器检测装置,其中,还包括托盘,所述托盘包括模具板,所述模具板上设有多个与所述多个测试位置对应的元件孔,每个所述元件孔内设有顶针,所述托盘与所述多个测试位置连接。
上述压力传感器检测装置,其中,所述多个结果显示单元中的每个结果显示单元包括电流显示部件,所述电流显示部件连接在所述测试单元所属的所述回路上。
上述压力传感器检测装置,其中,所述多个结果显示单元中的每个结果显示单元包括电压显示部件,所述电压显示部件连接在所述测试单元所属的所述回路上。
上述压力传感器检测装置,其中,所述模具板有多块,所述多块模具板上的所述元件孔形状不同。
上述压力传感器检测装置,其中,所述托盘上有固定装置,所述固定装置固定所述托盘于所述测试装置上。
上述压力传感器检测装置,其中,所述多个结果显示单元中每个结果显示单元包括电压判断模块,所述电压判断模块连接在所述测试单元所属的所述回路上,所述电压判断模块与所述电压显示部件连接。
上述压力传感器检测装置,其中,所述多个结果显示单元中每个结果显示单元包括信号放大模块,所述信号放大模块连接在所述测试单元所属的所述回路上,所述信号放大模块与所述电压判断模块连接。
本发明的有益效果是:
操作方便,制造成本低,维护简便,可同时检测多个待测元件,检测准确度高,不同外形压阻压力传感器测试时更改配件方便。
附图说明
图1是本发明压力传感器检测装置的测试装置的结构图;
图2是本发明压力传感器检测装置的测试结果显示装置的结构图;
图3是本发明压力传感器检测装置的一个测试单元的电路连接框图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明,但不作为本发明的限定。
如图1、图2和图3所示,本发明压力传感器检测装置包括测试装置1和测试结果显示装置2,测试装置1包括输出接口(图上未标出),输出接口与测试结果显示装置2连接,其中,测试装置1上设有多个测试位置12,测试结果显示装置2上设有与多个测试位置12对应的多个结果显示单元21,多个测试位置12各自通过输出接口与其对应的结果显示单元21连接,每对相互对应的测试位置12和结果显示单元21组成测试单元。本发明压力传感器检测装置的检测原理为,在测试位置12设置连接待测元件针脚的导线,将导线通过输出接口与对应的结果显示单元21连接,对待测元件施加压力,利用压阻效应使待测元件的阻值发生变化并引起待测元件两端的电压发生变化,通过观察结果显示单元21判断待测元件是否满足检测标准。使用时可将多个待测元件分别置于多个测试位置12,通过测试结果显示装置2的结果显示单元21读取对应测试位置12上的元件的检测数据,可以同时检测多个元件以提高检测效率。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海芯哲微电子科技有限公司,未经上海芯哲微电子科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110200427.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。