[发明专利]旋转角度检测装置及旋转角度检测装置的制造方法有效

专利信息
申请号: 201110102564.2 申请日: 2011-04-21
公开(公告)号: CN102252603A 公开(公告)日: 2011-11-23
发明(设计)人: 间濑真;池田勉 申请(专利权)人: 爱三工业株式会社
主分类号: G01B7/30 分类号: G01B7/30;G01D5/14
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 旋转 角度 检测 装置 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种旋转角度检测装置(40),其包括:

模制部(52),其由树脂制成并且为具有中心轴线的大致圆筒状;以及

转换IC(44),其被埋设在模制部(52)中,并且具有:磁场检测部(45)、运算部(47)和将所述磁场检测部(45)与所述运算部(47)连接的导线(46),其中,所述导线(46)被弯曲成使得所述磁场检测部(45)被配置成与所述模制部(52)的中心轴线垂直并且使得所述运算部(47)被配置成与所述模制部(52)的中心轴线平行,

其特征在于,

所述导线(46)之一和所述运算部(47)之间的连接部被定位成比所述导线(46)的径向外端靠近所述模制部(52)的中心轴线。

2.根据权利要求1所述的旋转角度检测装置(40),其特征在于,

每个所述导线(46)均具有以小于90°的角度弯曲的弯曲部(R1)。

3.根据权利要求1或2所述的旋转角度检测装置(40),其特征在于,

每个所述导线(46)均被弯曲成大致S字形状。

4.根据权利要求1~3中的任一项所述的旋转角度检测装置(40),其特征在于,

每个所述导线(46)均具有靠近所述磁场检测部(45)的第一直线端和靠近所述运算部(47)的第二直线端。

5.一种旋转角度检测装置(40)的制造方法,所述旋转角度检测装置(40)包括树脂制的模制部(52)以及埋设在所述模制部(52)中的转换IC(44),所述转换IC(44)具有磁场检测部(45)、运算部(47)和将所述磁场检测部(45)与所述运算部(47)连接的导线(46),所述制造方法包括:

将所述导线(46)弯曲成使得所述磁场检测部(45)被定位成几乎与所述运算部垂直;

将所述转换IC(44)安装到具有带引导槽(K2M;K3M)的凸部的下模(K2;K3),使得所述磁场检测部(45)与所述引导槽(K2M;K3M)嵌合;

利用限定密封空间(52K)的上模(K1)覆盖所述下模(K2;K3),使得所述下模(K2;K3)和所述转换IC(44)被载置在所述密封空间(52K)中;

利用所述模制部(52)用的树脂填充所述密封空间(52K)。

6.根据权利要求5所述的旋转角度检测装置(40)的制造方法,其特征在于,

所述磁场检测部(45)具有定位板(45c),所述定位板具有从所述磁场检测部(45)突出的相反端;

所述下模(K2)具有形成在所述引导槽(K2M)下方的定位面(K23);以及

安装所述转换IC(44)包括将所述定位板(45c)的相反端与所述引导槽(K2M)嵌合并且使所述磁场检测部(45)与所述定位面(K23)接触。

7.根据权利要求5所述的旋转角度检测装置(40)的制造方法,其特征在于,

所述磁场检测部(45)具有定位板(45c),所述定位板具有从所述磁场检测部(45)突出的相反端;

所述下模(K3)具有形成在所述引导槽(K3M)下端的引导面(K33);以及

安装所述转换IC(44)包括将所述定位板(45c)的相反端与所述引导槽(K3M)嵌合并且使所述定位板(45c)的端部与所述引导面(K33)接触。

8.根据权利要求5~7中的任一项所述的旋转角度检测装置(40)的制造方法,其特征在于,所述制造方法还包括:

将所述运算部(47)与端子(48、49、54)相连;

使填充在所述密封空间(52K)中的树脂硬化,从而形成限定配置下模(K2;K3)的空洞空间(K2K;K3K)的模制部(52),

从所述模制部(52)移除所述下模(K2;K3);以及

将电子零件(C1)配置在所述空洞空间(K2K;K3K)中,然后将所述电子零件(C1)与至少一个所述端子(48、49、54)相连。

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