[发明专利]旋转角度检测装置及旋转角度检测装置的制造方法有效
申请号: | 201110102564.2 | 申请日: | 2011-04-21 |
公开(公告)号: | CN102252603A | 公开(公告)日: | 2011-11-23 |
发明(设计)人: | 间濑真;池田勉 | 申请(专利权)人: | 爱三工业株式会社 |
主分类号: | G01B7/30 | 分类号: | G01B7/30;G01D5/14 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 旋转 角度 检测 装置 制造 方法 | ||
1.一种旋转角度检测装置(40),其包括:
模制部(52),其由树脂制成并且为具有中心轴线的大致圆筒状;以及
转换IC(44),其被埋设在模制部(52)中,并且具有:磁场检测部(45)、运算部(47)和将所述磁场检测部(45)与所述运算部(47)连接的导线(46),其中,所述导线(46)被弯曲成使得所述磁场检测部(45)被配置成与所述模制部(52)的中心轴线垂直并且使得所述运算部(47)被配置成与所述模制部(52)的中心轴线平行,
其特征在于,
所述导线(46)之一和所述运算部(47)之间的连接部被定位成比所述导线(46)的径向外端靠近所述模制部(52)的中心轴线。
2.根据权利要求1所述的旋转角度检测装置(40),其特征在于,
每个所述导线(46)均具有以小于90°的角度弯曲的弯曲部(R1)。
3.根据权利要求1或2所述的旋转角度检测装置(40),其特征在于,
每个所述导线(46)均被弯曲成大致S字形状。
4.根据权利要求1~3中的任一项所述的旋转角度检测装置(40),其特征在于,
每个所述导线(46)均具有靠近所述磁场检测部(45)的第一直线端和靠近所述运算部(47)的第二直线端。
5.一种旋转角度检测装置(40)的制造方法,所述旋转角度检测装置(40)包括树脂制的模制部(52)以及埋设在所述模制部(52)中的转换IC(44),所述转换IC(44)具有磁场检测部(45)、运算部(47)和将所述磁场检测部(45)与所述运算部(47)连接的导线(46),所述制造方法包括:
将所述导线(46)弯曲成使得所述磁场检测部(45)被定位成几乎与所述运算部垂直;
将所述转换IC(44)安装到具有带引导槽(K2M;K3M)的凸部的下模(K2;K3),使得所述磁场检测部(45)与所述引导槽(K2M;K3M)嵌合;
利用限定密封空间(52K)的上模(K1)覆盖所述下模(K2;K3),使得所述下模(K2;K3)和所述转换IC(44)被载置在所述密封空间(52K)中;
利用所述模制部(52)用的树脂填充所述密封空间(52K)。
6.根据权利要求5所述的旋转角度检测装置(40)的制造方法,其特征在于,
所述磁场检测部(45)具有定位板(45c),所述定位板具有从所述磁场检测部(45)突出的相反端;
所述下模(K2)具有形成在所述引导槽(K2M)下方的定位面(K23);以及
安装所述转换IC(44)包括将所述定位板(45c)的相反端与所述引导槽(K2M)嵌合并且使所述磁场检测部(45)与所述定位面(K23)接触。
7.根据权利要求5所述的旋转角度检测装置(40)的制造方法,其特征在于,
所述磁场检测部(45)具有定位板(45c),所述定位板具有从所述磁场检测部(45)突出的相反端;
所述下模(K3)具有形成在所述引导槽(K3M)下端的引导面(K33);以及
安装所述转换IC(44)包括将所述定位板(45c)的相反端与所述引导槽(K3M)嵌合并且使所述定位板(45c)的端部与所述引导面(K33)接触。
8.根据权利要求5~7中的任一项所述的旋转角度检测装置(40)的制造方法,其特征在于,所述制造方法还包括:
将所述运算部(47)与端子(48、49、54)相连;
使填充在所述密封空间(52K)中的树脂硬化,从而形成限定配置下模(K2;K3)的空洞空间(K2K;K3K)的模制部(52),
从所述模制部(52)移除所述下模(K2;K3);以及
将电子零件(C1)配置在所述空洞空间(K2K;K3K)中,然后将所述电子零件(C1)与至少一个所述端子(48、49、54)相连。
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