[发明专利]双层硅外延片结构肖特基二极管芯片无效

专利信息
申请号: 201110086509.9 申请日: 2011-04-07
公开(公告)号: CN102184972A 公开(公告)日: 2011-09-14
发明(设计)人: 王新潮;冯东明;叶新民;朱瑞 申请(专利权)人: 江阴新顺微电子有限公司
主分类号: H01L29/872 分类号: H01L29/872
代理公司: 江阴市同盛专利事务所 32210 代理人: 唐纫兰
地址: 214434 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 双层 外延 结构 肖特基 二极管 芯片
【权利要求书】:

1.一种双层硅外延片结构肖特基二极管芯片,包括硅片衬底(1),其特征在于:在硅片衬底(1)表面依次设置有过渡外延层(2)和外延层(7),在外延层(7)表面设置有肖特基势垒(5)、P型掺杂的保护环(6)和SiO2层(3),其中肖特基势垒(5)设置于外延层(7)表面中央,P型掺杂的保护环(6)和SiO2层(3)依次设置于肖特基势垒(5)外围,且SiO2层(3)还局部搭接于P型掺杂的保护环(6)表面,在肖特基势垒(5)表面、P型掺杂的保护环(6)局部表面以及SiO2层(3)局部表面设置有电极金属(4);所述硅片衬底(1)电阻率为0.001~0.005Ω·cm,过渡外延层(2)电阻率为0.03~1.00Ω·cm、厚度为2μm~ 8μm,外延层(7)电阻率为3~20Ω·cm、厚度为5μm~ 30μm。

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