[发明专利]一种具有轴向高分辨率的三差动共焦显微镜成像方法及成像装置有效
| 申请号: | 201110049995.7 | 申请日: | 2011-03-02 |
| 公开(公告)号: | CN102116930A | 公开(公告)日: | 2011-07-06 |
| 发明(设计)人: | 张雨东;李昊;卢婧;史国华 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号: | G02B21/36 | 分类号: | G02B21/36;G02B21/00 |
| 代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 成金玉;贾玉忠 |
| 地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 具有 轴向 高分辨率 差动 显微镜 成像 方法 装置 | ||
1.一种具有轴向高分辨率的三差动共焦显微镜成像方法,其特征在于实现步骤如下:
(1)将光探测处针孔固定在针孔轴向微位移装置一端上,针孔轴向微位移装置另一端固定在基板上;由信号同步装置控制针孔轴向微位移驱动装置发出驱动信号,驱动针孔轴向微位移装置改变光探测处针孔位置,依次将针孔置于共焦显微镜的光学系统中集光透镜焦点处、焦后um处和焦前um处,其中um为针孔距集光透镜焦点距离的归一化光学坐标;
(2)信号同步装置实现被测样品扫描信号、针孔轴向微位移装置驱动信号,数据采集装置触发信号的同步,保证在光探测处针孔移动后,再对被测样本逐点扫描,并同时采集信号;
(3)在步骤(1)中上述针孔的三个位置,即光探测处针孔分别位于集光透镜焦点处、焦后um处和焦前um处时,由信号同步装置控制针孔轴向微位移驱动装置产生的周期驱动信号fd(t)为:
其中T为驱动信号的周期即采集三幅图像所需时间,E为信号的幅度,t为采样时间,当0<t≤T/3时,光探测处针孔处在集光透镜焦后um处,此时采集图像I2(v,u,-um);当T/3<t≤2T/3时,光探测处针孔处在集光透镜焦点处,此时采集图像I1(v,u,0);当2T/3<t≤T时,光探测处针孔处在集光透镜焦前um处,此时采集图像I3(v,u,+um);其中u为轴向归一化光学坐标,v为横向归一化光学坐标;
(4)将I1(v,u,0)减I2(v,u,-um)得到两幅图像之差IA(v,u),I1(v,u,0)减I3(v,u,+um)得到两幅图像之差IB(v,u),I2(v,u,-um)减I3(v,u,+um)得到两幅图像之差IC(v,u),由IA(v,u)、IB(v,u)、IC(v,u)得到提高了轴向分辨率的图像I(v,u):
2.根据权利要求1所述的具有轴向高分辨率的三差动共焦显微镜成像方法,其特征在于:所述共焦显微镜的光学系统(16)包括光源(1)、针孔(2)、扩束器(3)、半透半反镜(4)、物镜(5)和集光透镜(8);光源(1)发出的光通过针孔(2)、扩束器(3)和半透半反镜(4)后,被物镜(5)汇聚于被测样品(7)上一点,通过平移台(6)的移动完成对被测样品(7)的逐点扫描;被测样品(7)反射回来的光按原光路返回,被半透半反镜(4)反射后,通过集光透镜(8)和光探测处针孔(10)被光信号探测装置(11)探测。
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