[发明专利]数字摄像装置及其图像处理方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种图像处理方法，特别是涉及一种用于检测及校正瑕疵像素的数字摄像装置及其图像处理方法。

背景技术

目前数字成像技术大多利用互补金属氧化物半导体(Complementary Metal-Oxide Semiconductor，CMOS)作为感光元件，并在其上覆盖一层彩色的滤色阵列(Color Filter Array，CFA)，将撷取到的图像的红绿蓝(RGB)三原色各自分开，进而产生符合拜耳图样(Bayer Pattern)的像素阵列图像，如图1所示，其为5×5像素阵列1，其中R表示红色，B表示蓝色，G表示绿色。

然而，所撷取到的像素阵列1中的相邻像素会互相干扰，或CMOS感光元件在工艺中的电路缺陷，都有可能产生瑕疵像素(Bad Pixel)，进而使得处理后的图像中出现特别突兀的部分，如亮点。为了修正瑕疵像素，目前通常会找其周围同颜色的像素来进行修补，以图1为例，假设欲修正正中央的蓝色像素，则处理器会从其四周的蓝色像素中找最大和次大的像素值来作权重运算后，取代中央的蓝色样素值。但在某些情况下，运算出的校正值仍然无法显著且有效地校正瑕疵像素。

因此，亟需提出一种新颖的数字摄像装置及其图像处理方法，使能准确地检测出瑕疵像素，并有效地对其校正。

发明内容

鉴于上述，本发明实施例的目的之一在于提出一种数字摄像装置及其图像处理方法，其藉由待测像素周围的像素值来检测是否为瑕疵像素，并根据与待测像素相同颜色的像素的值，来校正待测像素，进而能准确地检测出瑕疵像素，并有效地校正之。

本发明揭示一种图像处理方法，适用于n×n像素阵列的正中央的待测像素，该待测像素具有待测像素值。所述的图像处理方法包含以下步骤：首先，判断待测像素值是否大于校正门坎值；之后，若待测像素值大于校正门坎值，则进行第一图像校正程序，用来将对称于具有最大像素值的同色像素的多个同色像素的值进行权重运算，并将运算结果与待测像素值进行权重运算后，取代待测像素值。

本发明又揭示一种数字摄像装置，其包含感光元件、瑕疵像素判断单元以及瑕疵像素校正(Bad Pixel Correction，BPC)处理器。感光元件用来撷取符合拜耳图样(Bayer Pattern)的像素阵列图像，其包含多个n×n像素阵列，其中每一n×n像素阵列的正中央具有待测像素，其具有待测像素值。瑕疵像素判断单元耦接于感光元件，用来判断待测像素值是否大于校正门坎值，以输出校正致能信号。瑕疵像素校正处理器耦接于瑕疵像素判断单元，当接收到校正致能信号后，便将对称于具有最大像素值的同色像素的多个同色像素的值进行权重运算，并将运算结果与待测像素值进行权重运算后，取代待测像素值。

附图说明

图1为现有的拜耳图样的示意图；

图2为本发明实施例的数字摄像装置的框图；

图3为本发明实施例的像素阵列图像的示意图；

图4为本发明实施例的5×5像素阵列的示意图；

图5为本发明实施例的3×3像素阵列及其对应的像素值的示意图；

图6为本发明实施例的图像处理方法的流程图。

具体实施方式

首先，请参考图2，为本发明实施例的数字摄像装置的框图。如图2所示，数字摄像装置2包含感光元件21、瑕疵像素判断单元23、瑕疵像素校正(Bad Pixel Correction，BPC)处理器25、数字化处理单元27以及储存单元29。数字摄像装置2用来撷取图像，其利用感光元件21上覆盖的一层拜耳图样(Bayer Pattern)的彩色滤色阵列(Color Filter Array，CFA)(图中未示)产生拜耳图样像素阵列图像。

瑕疵像素判断单元23耦接于感光元件21，用来判断像素阵列图像中是否有瑕疵像素；而瑕疵像素校正处理器25耦接于瑕疵像素判断单元23，根据将瑕疵像素判断单元23判断出的瑕疵像素进行校正。数字化处理单元27用来将所有瑕疵像素都校正完的像素阵列图像进行处理，如拜耳图样插补(Bayer Pattern Interpolation)、信号放大、模拟数字转换等，以产生数字化图像储存至储存单元29中。