[发明专利]具有侧线采出次级反应器的氧化系统有效
申请号: | 201080065951.7 | 申请日: | 2010-12-09 |
公开(公告)号: | CN102811993A | 公开(公告)日: | 2012-12-05 |
发明(设计)人: | A.谢克;A.G.万德斯;D.朗格 | 申请(专利权)人: | 奇派特石化有限公司 |
主分类号: | C07C51/265 | 分类号: | C07C51/265;C07C63/26;B01J8/22;B01J10/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 赵苏林;杨思捷 |
地址: | 墨西哥*** | 国省代码: | 墨西哥;MX |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 侧线 次级 反应器 氧化 系统 | ||
1.通过使浆料与气相氧化剂接触生产多元羧酸的系统,所述系统包括:
包括第一浆料出口的初级氧化反应器;和
包括浆料入口、第二浆料出口、通常下部的氧化剂入口和通常上部的氧化剂入口的次级氧化反应器,
其中所述浆料入口与所述第一浆料出口下游侧流体流连通,
其中所述次级氧化反应器在其内限定了具有最大长度LS和最大直径DS的次级反应区,
其中所述通常下部的氧化剂入口距所述次级反应区底部小于0.5LS,
其中所述通常上部的氧化剂入口距所述次级反应区底部至少0.5LS,
其中所述浆料入口距所述次级反应区底部的距离在约0.3LS至约0.9LS的范围。
2.权利要求1的系统,其中所述通常上部的氧化剂入口和所述通常下部的氧化剂入口在它们之间限定了用于将所述气相氧化剂引入所述次级反应区内的总开口面积,其中所述通常上部的氧化剂入口限定了所述总开口面积的约5%至约49%,其中所述通常上部的氧化剂入口距所述次级反应区底部至少0.7LS。
3.权利要求1的系统,其中所述通常上部的氧化剂入口包括喷洒器,其中所述喷洒器包括多个氧化剂排出口,其中大部分所述氧化剂排出口取向为朝通常向下的方向排出所述气相氧化剂。
4.权利要求1的系统,其中所述通常上部的氧化剂入口距所述浆料入口小于0.4LS。
5.权利要求1的系统,其中所述次级氧化反应器包括至少两个通常上部的氧化剂入口,各自分别距所述次级反应区底部至少0.5LS。
6.权利要求1的系统,其中所述浆料入口距所述次级反应区底部的距离在约0.5LS至约0.8LS的范围,其中所述浆料入口距所述次级反应区底部的距离在约9DS至约15DS的范围,其中所述反应区的LS:DS比在约14:1至约28:1的范围。
7.权利要求1的系统,其中所述初级氧化反应器为泡罩塔反应器,其中所述次级氧化反应器为泡罩塔反应器,其中所述初级氧化反应器在其内限定了初级反应区,其中所述初级反应区与所述次级反应区的体积比在约4:1至约50:1的范围。
8.通过使经由氧化产生的浆料与气相氧化剂接触来生产多元羧酸的系统,所述系统包括:
包括第一浆料出口的初级氧化反应器;和
包括浆料入口、第二浆料出口和通常上部的氧化剂入口的次级氧化反应器,
其中所述浆料入口与第一浆料出口下游侧流体流连通,
其中所述次级氧化反应器在其内限定了具有最大长度LS和最大直径DS的次级反应区,
其中所述浆料入口距所述次级反应区底部的距离在约0.3LS至约0.9LS的范围,
其中所述通常上部的氧化剂入口在所述浆料入口上方与其相距小于0.4LS。
9.权利要求8的系统,其中所述次级氧化反应器还包括通常下部的氧化剂入口,其中所述通常下部的氧化剂入口距所述次级反应区底部小于0.3LS,其中所述通常上部的氧化剂入口距所述次级反应区底部至少0.7LS。
10.权利要求8的系统,其中所述通常上部的氧化剂入口包括喷洒器,其中所述喷洒器包括多个氧化剂排出口,其中大部分所述氧化剂排出口取向为朝通常向下的方向排出所述气相氧化剂。
11.权利要求8的系统,其中所述浆料入口距所述次级反应区底部的距离在约0.5LS至约0.8LS的范围,其中所述浆料入口距所述次级反应区底部的距离在约9DS至约15DS的范围,其中所述反应区的LS:DS比在约14:1至约28:1的范围。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于奇派特石化有限公司,未经奇派特石化有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201080065951.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种非接触通信集成电路的解码电路
- 下一篇:部件安装设备和部件检测方法