[发明专利]测试、验证和调试架构

说明书

本文描述了用于提供测试、验证和调试架构的装置和方法。在目标级或基础级，硬件钩子(用于测试的设计或DFx)被设计到硅部件中并与之集成。控制器可提供对此类钩子的抽象访问，例如通过对硬件DFx的低级细节进行抽象的抽象层。此外，抽象层通过接口(例如API)向更高级软件/表示层提供服务、例程和数据结构，而更高级软件/表示层能够收集测试数据以用于验证和调试测试中单元/平台。此外，该架构可能提供对测试架构的层级式(多个级的)安全访问。另外，通过使用统一双向的测试访问端口，可以为平台简化对测试架构的物理访问，同时还可能准许远程访问，以执行测试中部分/平台的远程测试和调试。基本上，本文描述了用于电子部分、设备和平台的测试、验证和调试的完整测试架构堆栈。

技术领域

本发明涉及计算机系统的领域，并且特别涉及为计算机系统提供测试和调试基础设施。

背景技术

半导体处理和逻辑设计的发展已经允许增加集成电路设备上可存在的逻辑的量。作为一种必然，计算机系统配置已经从系统中的单个或多个集成电路演进到各个集成电路上存在多个核、多个硬件线程和多个逻辑处理器以及在这类处理器内集成的其它接口。处理器或集成电路通常包括单个物理处理器管芯，其中处理器管芯可包括任何数量的核、硬件线程、逻辑处理器、接口、存储器，控制器中心(hub)等等。而且由于处理器和计算机系统二者在复杂性方面增长，那些系统的调试和测试的性质也在错综复杂方面增长。

高速、大量的逻辑和小性质或处理器正导致无法以及时或具成本效益的方式来调试、验证和发行产品。目前，测试和调试领域在制造商和客户/供应商之间已被分叉，其中，制造商倾向于专注于他们提供的硅设备，而供应商则专注于与硅设备集成的其它部分。经常为了保护他们的硅免受恶意和意外的损害，制造商不以任何级向供应商显露他们的硬件调试钩子(hook)，因为不存在提供此类访问的安全方法。并且，随着测试更高级计算机系统的复杂性变得更繁杂，制造商花费大量金钱和精力来辅助验证(即使当发现的问题并不直接涉及他们的设备)。此外，系统中每个不同的设备(处理器，控制器中心，图形设备，母板，等)可具有它自己的对测试和调试的访问。这种在测试/调试上分离的方法只会导致在验证产品中更多的混乱和延迟。此外，由于新的集成电路的物理尺寸限制，传统的探测测试方法已经变成抑制性的。

另外，不管作为制造商还是作为供应商，例如外部逻辑分析器和示波器的试图验证的工具花费相当量的金钱，以及花费大量的时间由受过训练的员工进行连接并且正确用于验证。另外，这些外部验证工具仅能够捕获互连上的协议交换，并且难于完全断定设备的状态(state)和交互。

作为特定示例，当前计算机系统不提供在某些条件下无巨大费用和时间而验证不同的系统事件的方式，例如跟踪设备内部信号、踪迹(trace)或状态；跟踪引导过程中早期的信号；确定某些事件，例如已经被集成为带内消息的挂起(hang)事件，以及捕获新的、高速内部存储器以及输入/输出(I/O)业务和/或协议。基本上，当前没有一种统一高效的方法跨多个载体(vector)进行验证(处理器测试/验证、平台调试、电极限化(margining)、母板诊断等)。

附图说明

本发明通过示例来示出，且并非旨在由附图的图来限制。

图1示出多处理元件处理器的逻辑代表(representation)的实施例。

图2示出多处理元件处理器的逻辑代表的另一实施例。

图3示出分层测试架构的逻辑代表的实施例。

图4示出计算机系统的实施例，其包括具有DFx特征的示范实施例的多个处理器。

图5示出利用分层互连堆栈的双向互连架构的框图的实施例。

图6示出用于捕获早期通电(power-on)信号信息的框图的实施例。

图7示出用于在电子系统的引导期间捕获早期信号的捕获逻辑的高级框图的实施例。