[发明专利]光学组件的快速对准方法

权利要求书

1.一种用于对准光学组件的方法，所述光学组件包括：用于发出具有第一波长的输出光束的半导体激光器；用于将所述输出光束转换至第二波长的波长转换器件；构造成将所述输出光束光耦合入所述波长转换器件的输入面的波导部分的自适应光学器件；以及被编程以运作所述自适应光学器件的至少一个可调光学部件的组件控制器，所述方法包括：

随着所述半导体激光器的输出光束沿第一扫描轴在所述波长转换器件的输入面上扫描，通过测量从所述波长转换器件的块晶部分射出或由其散射的具有第一波长的光的功率来确定所述波长转换器件的边缘；

将所述半导体激光器的输出光束定位在所述波长转换器件的输入面上，以使所述半导体激光器的输出光束相对于所述波长转换器件的边缘位于第二扫描轴上，其中所述第二扫描轴横越所述波长转换器件的所述波导部分的至少一部分；

通过随着所述半导体激光器的输出光束沿所述第二扫描轴在所述波长转换器件的输入面上扫描而测量从所述波长转换器件射出的光的功率来确定所述波导部分沿第二扫描轴的位置；以及

基于当所述半导体激光器的输出光束沿所述第二扫描轴扫描时测得的光功率，使红外半导体激光器的输出光束与所述波长转换器件的所述波导部分对准。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述半导体激光器的输出光束是红外光，而所述波长转换器件是用于将红外光转换成可见光的二次谐波发生晶体。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，包括沿所述第一扫描轴测得的第一波长的光是散射光。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，具有第一波长的光的功率是通过基本平行于所述波长转换器件的光轴定位的光检测器来测量的。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，包括沿第一扫描轴测得的第一波长的光从所述波长转换器件的输出面射出。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，包含第一波长的光是通过用分束器将从所述波长转换器件的输出面射出的光重新引导入光检测器来测量的。

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，随着所述半导体激光器的输出光束在第二扫描轴上扫描而测得的光包括第一波长、第二波长或两者兼有。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，随着所述半导体激光器的输出光束沿第二扫描轴扫描而测得的光包括从所述波长转换器件的输出面和波导部分射出并具有第一波长的光。

9.如权利要求7所述的方法，其特征在于，随着所述半导体激光器的输出光束沿第二扫描轴扫描而测得的光包括从所述波长转换器件的波导部分射出并具有第二波长的光。

10.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括随着所述半导体激光器的输出光束沿第二扫描轴扫描而沿基本垂直于所述第二扫描轴的方向调制所述半导体激光器的输出光束的位置。

11.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括在所述波长转换器件的输入面上定位所述半导体激光器的输出光束，由此当所述半导体激光器的输出光束沿所述第一扫描轴和第二扫描轴扫描时使所述半导体激光器的输出光束不反射进入所述半导体激光器的输出波导内。

12.如权利要求1所述的方法，其特征在于，通过调整可调光学部件的位置而沿所述第一扫描轴和所述第二扫描轴扫描所述半导体激光器的输出光束。

13.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述可调光学部件是可调反射镜，并且所述半导体激光器、波长转换器件和自适应光学器件被定位以形成折叠的光学路径。

14.如权利要求13所述的方法，其特征在于，所述可调反射镜是MEMS反射镜。

15.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述可调光学部件是可调透镜，并且所述半导体激光器、波长转换器件和自适应光学器件被构造成形成基本线性的光学路径。

16.如权利要求1所述的方法，其特征在于，使用至少一个机械执行器来调整所述半导体激光器、自适应光学器件和波长转换器件的相对位置，从而沿所述第一扫描轴和第二扫描轴扫描所述半导体激光器的输出光束。