[发明专利]具有采样偏斜误差校正的过程设备

权利要求书

1.一种用于监视或控制工业过程的工业过程设备，包括：

第一输入，被配置为接收与第一过程变量相关的第一多个采样；

第二输入，被配置为接收与第二过程变量相关的第二多个采样；

补偿电路，被配置为：补偿所述第一多个采样与所述第二多个采 样之间的时间差值，以及提供与两个过程变量相关的补偿输出。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述补偿输出基于与所述 第一过程变量相关的所述第一多个采样的外插。

3.根据权利要求1所述的装置，其中，所述补偿输出基于与所述 第一过程变量相关的所述第一多个采样的内插。

4.根据权利要求3所述的装置，其中，所述内插基于与所述第一 多个采样中的与所述第一过程变量相关的两个相邻采样。

5.根据权利要求1所述的装置，其中，所述补偿输出基于所述第 一多个采样中的与所述第一过程变量相关的至少三个采样之间的曲线 拟合。

6.根据权利要求5所述的装置，其中，所述曲线拟合包括多项式 曲线拟合。

7.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第一多个采样和所述 第二多个采样具有时间戳。

8.根据权利要求1所述的装置，包括测量电路，所述测量电路被 配置为将第三过程变量作为与所述第一过程变量相关的已补偿的第一 多个采样和与所述第二过程变量相关的所述第二多个采样的函数来计 算。

9.根据权利要求1所述的装置，其中，所述补偿电路向所述第一 多个采样和所述第二多个采样提供衰减。

10.根据权利要求9所述的装置，其中，所述补偿电路包括低通 滤波器。

11.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第一输入和所述第 二输入中的至少一个包括无线输入。

12.根据权利要求1所述的装置，包括测量电路，所述测量电路 被配置为基于所述第一过程变量和所述第二过程变量的补偿值计算差 压。

13.根据权利要求2所述的装置，其中，所述补偿电路还被配置 为：提供与所述第二过程变量相关的补偿输出。

14.一种在工业过程设备中使用的用于补偿两个过程变量之间的 时间差值的方法，包括：

接收与第一过程变量相关的第一多个采样；

接收与第二过程变量相关的第二多个采样，其中，在所述第一过 程变量的采样与所述第二过程变量的采样之间存在时间差值；

补偿所述第一多个采样与所述第二多个采样之间的时间差值；

提供与作为所述第一过程变量和所述第二过程变量的补偿值的函 数的第三过程变量相关的输出。

15.根据权利要求14所述的方法，其中，所述补偿基于与所述第 一过程变量相关的所述第一多个采样的外插。

16.根据权利要求14所述的方法，其中，所述补偿基于所述第一 多个采样中的与所述第一过程变量相关的至少两个采样之间的内插。

17.根据权利要求16所述的方法，其中，所述内插基于所述第一 多个采样中的与所述第一过程变量相关的两个相邻采样。

18.根据权利要求14所述的方法，其中，所述补偿基于所述第一 多个采样中的与所述第一过程变量相关的至少三个采样之间的曲线拟 合。

19.根据权利要求18所述的方法，其中，所述曲线拟合包括多项 式曲线拟合。

20.根据权利要求14所述的方法，其中，所述第一多个采样和所 述第二多个采样具有时间戳。

21.根据权利要求14所述的方法，包括：将第三过程变量作为与 所述第一过程变量相关的已补偿的第一多个采样和与所述第二过程变 量相关的所述第二多个采样的函数来计算。