[发明专利]用于确定触摸输入的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201080014043.5 申请日: 2010-03-24
公开(公告)号: CN102362250A 公开(公告)日: 2012-02-22
发明(设计)人: D·W·考德威尔;W·D·谢菲尔 申请(专利权)人: 阿尔申蒂斯有限责任公司
主分类号: G06F3/045 分类号: G06F3/045
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 方世栋;王忠忠
地址: 美国密*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 确定 触摸 输入 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种电容传感器,包括:

电极;

处理单元,所述处理单元被电耦合到所述电极,并被配置为基于 所述电极电容的变化率确定刺激的出现。

2.如权利要求1所述的电容传感器,其特征在于,所述电容传感器进 一步包括提供邻近所述电极的基底,其中所述刺激对应于紧靠所述基 底的对象的位置。

3.如权利要求1所述的电容传感器,其特征在于,其中所述处理单元 被配置为响应于小于第一预定值的所述电极电容的所述变化率而确 定刺激的出现。

4.如权利要求1所述的电容传感器,其特征在于,其中所述处理单元 被配置为响应于与所述电极电容成比例的锁存的值大于第二预定值 而确定刺激的出现。

5.如权利要求1所述的电容传感器,其特征在于,其中所述处理单元 包括差分放大器,用于提供与所述电极电容的所述变化率成比例的输 出。

6.如权利要求5所述的电容传感器,其特征在于,其中所述差分放大 器可操作用于比较对应于所述电极电容的连续测量的第一和第二锁 存的值。

7.如权利要求6所述的电容传感器,其特征在于,所述电容传感器进 一步包括第一比较器,所述第一比较器可操作用于将与所述差分放大 器的所述输出成比例的信号与第一预定参考值相比较。

8.如权利要求7所述的电容传感器,其特征在于,其中所述处理单元 包括第二比较器,所述第二比较器可操作用于将与所述电极电容成比 例的信号与第二预定参考值相比较。

9.如权利要求8所述的电容传感器,其特征在于,其中所述处理单元 基于所述第一和第二比较器的所述输出确定刺激的出现。

10.一种用于检测刺激的方法,包括:

提供电容传感器,所述电容传感器包括输出;

测量所述电容传感器输出的变化率;以及

基于所述电容传感器输出的所述变化率确定刺激的出现。

11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,其中所述确定步骤包 括响应于超过预定阈值的所述电容传感器输出而确定刺激的出现。

12.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,其中所述刺激对应于 接近所述电容传感器的对象。

13.根据权利要求12所述的方法,其特征在于,所述方法进一步包括 当所述电容传感器输出的所述变化率小于预定参考值时确定所述对 象已经相对于所述电容传感器停止移动。

14.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述方法进一步包括 提供邻近所述电容传感器的基底,其中所述刺激对应于紧靠所述基底 的对象的位置。

15.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,其中所述刺激对应于 邻近所述电容传感器的液平面。

16.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,其中所述测量步骤是 响应于超过预定阈值的所述电容传感器输出。

17.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,其中所述测量步骤包 括在连续采样间隔上检测所述电容传感器输出中的变化。

18.一种电容触摸系统,包括:

多个电极,所述多个电极响应于人操作者的触摸以在每个电极产 生电容变化;以及

邻近所述多个电极的电介质基底;

测量电路,所述测量电路被耦合到所述多个电极中的每一个,并 且被配置为基于所述电极电容的变化率来确定所述基底上的触摸输 入的出现。

19.如权利要求18所述的电容触摸系统,其特征在于,其中所述测量 电路可操作用于基于小于第一预定值的所述电极电容的所述时间变 化率确定触摸输入。

20.如权利要求19所述的电容触摸系统,其特征在于,其中所述测量 电路可操作用于基于与大于第二预定值的所述电极电容成比例的锁 存的值确定触摸输入。

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