[实用新型]用于DFB/FP激光器的测试治具

说明书

技术领域

本实用新型属于光电子器件领域，涉及分布式反馈激光器(Distributed Feedback Laser，缩写DFB)和法布里·珀罗激光器(Fabry Perot Laser，缩写FP)在封装完成后进行性能测试用的测试治具；该治具用于DFB/FP激光器在模拟工作温度环境下进行性能及老化测试。

背景技术

分布式反馈激光器(Distributed Feedback Laser，缩写DFB)和法布里·珀罗激光器(Fabry Perot Laser，缩写FP)在晶体管型外壳封装(Transistor outline，缩写TO)完成后，需要先做光电流电压测试(light-current-voltage，缩写LIV)，由于DFB/FP激光器的阈值电流和输出功率对温度变化相当敏感，为避免温度影响测试准确性问题，在做光电流电压测试时，必须稳定DFB/FP激光器的工作环境温度在25±0.5℃，以便控制和稳定DFB/FP激光器的输出光波长，从而避免由于环境温度的波动而造成激光器输出信号的光波长偏离到合波器或分波器的滤波带宽之外。光电流电压测试完成后，筛选出符合要求的产品再进行老化测试(Burn-In)，模拟产品在最坏的工作条件下的使用寿命，作为可靠性监控和从批次产品中剔除早起失效的产品。

为了进行上述试验，需用到一测试治具。据申请人所知，现有测试治具结构上就是一测试板，如图1所示，该测试板1的表面上设有供待测产品2插入的插槽3，测试板1上设有与测试仪器连接的接口4，测试板1上与接口4相对的另一侧上设有推手5，测试板1上在推手5的旁侧包设有一金属片6。在测试时，先将待测产品的引脚端插入插槽内，然后手扶推手将测试板推入一25±0.5℃的恒温箱，并将接口与测试仪上的插接口连接，同时将恒温箱内的温度传感器用铁夹夹在金属片上，关闭恒温箱箱门，待恒温箱箱内温度与测试板温度(即待测产品的温度)都稳定在25±0.5℃时，进行光电流电压测试。然后筛选出符合要求的待测产品，进行老化测试，即是将测试板连同待测产品一起推送进烧测箱内，该烧测箱内加设附加电压，箱内温度为100℃。

上述测试治具虽然能完成对待测产品的性能及老化测试，但在进行光电流电压测试时，需要很长时间来稳定恒温箱内温度及待测产品的温度，测试效率低，且测试数据的准确性不高；而在进行老化测试时，由于烧测箱内温度较高，而且激光器自身也会产生比较高的热量，这些热量的积累会导致封装后的激光器管芯温度急剧升高，超过承受范围时必然导致激光器失效，这样最终使得老化试验后良品率低下。因此如何解决上述问题是本实用新型需要研究的内容。

发明内容

本实用新型提供一种用于DFB/FP激光器的测试治具，其目的是解决现有技术测试效率低、测试数据准确性不高及良品率低下的问题。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种用于DFB/FP激光器的测试治具，包括一测试板，该测试板设有一插装区，该插装区的平面上布设有供与待测产品的下引脚插接的若干插槽；还包括热沉板及散热片；

所述热沉板为板状体，热沉板位于测试板的上方，并与测试板固定连接；并且，该热沉板上对应各插槽设有供待测产品的下引脚穿过的插孔；

所述散热片为一块或一组板状体，散热片位于热沉板的上方，并与热沉板经紧固件固定连接；并且，所述一块或一组散热片上对应各插孔设有供待测产品的上端部嵌入的透光孔；

以此，构成热沉板、散热片与待测产品相接触的散热结构。

上述技术方案中的有关内容解释如下：

1、上述方案中，所述散热片为一组条形状的板状体构成，每一条散热片均经螺丝与热沉板固定连接。

2、上述方案中，所述热沉板与散热片均为热阻小、热传导系数高的金属材料，如铁等。

3、上述方案中，所述散热片为可拆卸式，在测试时，经螺丝与热沉板固定连接，测试前及测试完成后可与热沉板分开放置。

4、上述方案中，所述散热片上的透光孔，用于在光电流电压测试时，探头扫描各激光器使用。

5、上述方案中，所述热沉板、散热片与待测产品相接触的散热结构指的是，在测试时，待测产品轴肩部的下表面与热沉板的上表面接触，待测产品肩轴部的上表面及上端部外周与散热片相接触，以此提供散热。

6、上述方案中，所述散热片可以为一整块板状体，也可以为一组长条状的板状体。

由于上述技术方案运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：