[实用新型]双通道式灰度测量池有效
申请号: | 201020228940.3 | 申请日: | 2010-06-18 |
公开(公告)号: | CN201697866U | 公开(公告)日: | 2011-01-05 |
发明(设计)人: | 邢德立 | 申请(专利权)人: | 北京凯隆分析仪器有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100004 北京市朝阳区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 双通道 灰度 测量 | ||
1.一种双通道灰度测量池,其特征在于:所述双通道灰度测量池包括外壳、测量光通道、参比光通道、温度传感器和电加热板;
所述测量光通道和参比光通道平行设在外壳中,所述温度传感器内嵌在外壳内,所述电加热板紧贴外壳设置。
2.如权利要求1所述的双通道灰度测量池,其特征在于:所述测量光通道和参比光通道的内壁均设有一层朗伯涂层。
3.如权利要求1所述的双通道灰度测量池,其特征在于:所述外壳上方设有端盖。
4.如权利要求1所述的双通道灰度测量池,其特征在于:所述测量光通道内安装测量池,测量池上方连接样气进气接管。
5.如权利要求1所述的双通道灰度测量池,其特征在于:所述参比光通道内设有内封装参比样品的玻璃管。
6.如权利要求1所述的双通道灰度测量池,其特征在于:所述双通道灰度测量池还包括接受温度传感器信号和控制电加热板温度的温度控制器。
7.如权利要求1所述的双通道灰度测量池,其特征在于:所述测量和参比光通道结构和光学参数一致,入射到测量和参比光通道的光线由同一光源进行分光后提供。
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