[实用新型]一种手动芯片测试机

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于芯片测试的机械设备技术领域，具体涉及一种可以测试晶圆切割后的单片芯片的好坏的手动芯片测试机。

背景技术

芯片在封装之前都有一道测试工序，以辩识其好坏，节省资源。随着电子产品的不断更新，芯片的制程越来越小、功能越来越多、工作频率越来越高，致使测试装置无法适应。在测试过程中，路线距离短才能测试准确，最好在20mm以下，短距离状况下既可测试又可监视是主要瓶颈。比如现内存条的DDR3芯片，工作频率1600MHZ，制程30nm，就是这种状况。现市面上的芯片测试机L型结构居多，监视装置与对位装置于一直线上，芯片测试硬件于对位装置右边。在监视装置能监视状况下又能测试芯片，测试硬件与探针卡的距离很长，芯片测试硬件上有很多不规则的象显示卡一样的插件，探针与测试硬件的距离必须大于插件加上监视装置的长度，至少长120mm，距离长无法测试准确；若改短测试距离但就无法放置监视设备。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于，提供一种手动芯片测试机，使测试距离短、测试状态能监视、精准度高、结构简单、方便操作。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种手动芯片测试机，其包括：对位装置、监视装置和硬件固定装置，所述对位装置、监视装置和硬件固定装置成“品”字形固定在同一底板上，所述硬件固定装置位于底板上端，所述监视装置和所述对位装置位于底板下端。

其中，优选的，所述监视装置位于所述对位装置的右边；或者，

所述监视装置位于所述对位装置的左边。

其中，优选的，所述监视装置包括显微镜，所述显微镜上方装设有电子目镜。

其中，优选的，所述显微镜通过支撑杆固定在所述底板上，反射镜装设在显微的物镜下方。

其中，优选的，所述手动芯片测试机还包括：防撞卡装置，所述防撞卡装置包括：限高装置和平行挡块，所述限高装置包括上铁板、下铁板和插入所述上铁板的中心孔的手拧螺丝，所述上铁板固定在探针卡架支撑板正前方，所述下铁板固定于由芯片固定平台、十字平台、手柄、调整螺杆和凸轮组成的载物平台的左侧；

所述平行挡块固定在探针卡架支撑板上，且位于所述载物平台上的定位柱的正上方，且所述平行挡块上设置有定位孔，所述定位孔位于所述定位柱的正上方。

实施本实用新型的技术方案，具有以下有益效果：本实用新型提供的手动芯片测试机的结构简单，使用方便，测试准确，能在短距离的测试条件下可监视对位状况。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明，附图中：

图1为本实用新型提供的手动芯片测试机的整体结构图；

图2为本实用新型提供的手动芯片测试机的立体图；

图3为本实用新型提供的手动芯片测试机的主视图；

图4为本实用新型提供的手动芯片测试机的另一立体图；

图5为本实用新型提供的手动芯片测试机的又一立体图；

图6为本实用新型提供的手动芯片测试机的部分结构图；

图7为本实用新型提供的手动芯片测试机的部分结构放大图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

本实用新型提供一种手动芯片测试机，如图1所示，该手动芯片测试机包括：用于将芯片与探针卡进行对位的对位装置300、监视装置200和硬件固定装置100，所述对位装置300、监视装置200和硬件固定装置100成“品”字形固定在同一底板110上，所述硬件固定装置100位于底板110上端，所述监视装置200和所述对位装置300位于底板110下端。所述监视装置200位于所述对位装置300的左边。监视装置200是用来监视芯片与探针卡对位状况的。芯片测试硬件与探针卡通过接口相连接，探针与测试硬件距离小于20mm，当放入一片芯片于载物平台上，推入探针卡下，升上载物平台，此时芯片上测试点与探针卡上的探针的针尖一一对应，对位图像经反射镜转入监视装置200的显微镜再由电子目镜传给显示器显示出来，启动测试软件，就可以测试此芯片好坏。

上述实施例提供的手动芯片测试机有益效果是：结构简单，使用方便，测试准确，能在短距离的测试条件下可监视对位状况。