[发明专利]测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试系统，特别涉及一种利用低频测试仪器测试高频装置的测试系统。

背景技术

半导体集成电路产业已快速成长一段时间。随着IC材料与设计的进步，每一代的IC均比前一代的IC更小更复杂。为了提高集成电路的效率，近年来集成电路的操作频率愈来愈高。

为了确保集成电路能够正常运作，通常会利用测试机台测试集成电路。测试机台提供测试信号给集成电路。集成电路根据所接收到的测试信号，产生测试结果。测试机台根据集成电路所产生的测试结果，判断集成电路是否正常。如果集成电路的操作频率为高频时，则测试机台需根据集成电路的操作频率，提供测试信号。然而，高频测试机台的成本相当昂贵。

发明内容

本发明提供一种待测装置，耦接测试机台。测试机台产生至少两个测试向量，并接收测试结果。本发明的待测装置包括组合逻辑电路以及主体电路。组合逻辑电路包括第一储存模块以及第二储存模块。第一储存模块根据第一操作时脉，储存测试向量。第二储存模块根据第二操作时脉，储存至少两个输出向量，并根据第二操作时脉，输出输出向量。第二操作时脉的频率大于第一操作时脉的频率。当测试向量均储存于第一储存模块之中时，第一储存模块将所储存的测试向量作为输出向量，并将输出向量输出至第二储存模块。主体电路根据第二储存模块所输出的输出向量，产生测试结果。测试机台根据测试结果，得知主体电路是否正常。

本发明另提供一种测试系统包括测试机台以及待测装置。测试机台根据第一操作时脉，输出至少两个测试向量。待测装置接收测试向量，用以产生测试结果，并包括组合逻辑电路以及主体电路。组合逻辑电路包括第一储存模块以及第二储存模块。第一储存模块根据第一操作时脉，储存测试向量。第二储存模块根据第二操作时脉，储存至少两个输出向量，并根据第二操作时脉，输出输出向量。第二操作时脉的频率大于第一操作时脉的频率。当测试向量均储存于第一储存模块之中时，第一储存模块将所储存的测试向量作为输出向量，并将输出向量输出至第二储存模块。主体电路根据第二储存模块所输出的输出向量，产生测试结果。测试机台根据测试结果，得知主体电路是否正常。

为让本发明的特征和优点能更明显易懂，下文特举出优选实施例，并结合附图，作详细说明如下：

附图说明

图1为本发明的测试系统的示意图；

图2为本发明的组合逻辑电路的可能实施例；

图3A～3C为本发明的组合逻辑电路的可能实施例；

图4为本发明的组合逻辑电路的另一可能实施例；以及

图5为主体电路的可能实施例。

【附图标记说明】

100：测试系统；

110：测试机台；

130：待测装置；

131：组合逻辑电路；

133：主体电路；

210、230、310A～310C、330A～330C、410、430：储存模块；

251、253：多任务器；

FF1～FF64、FFR₁～FFR_n、FFL₁～FFL_n：正反器；

250、350A、350B、350C：切换模块；

370A、370B、370C：重置模块；

390A、390B、390C：计数模块；

450：重置/加载模块；

470：闩锁模块；

RCV：接收模块；

510：记忆胞数组；

530：存取模块。

具体实施方式

在此使用的术语仅为用以描述特定实施例而非用以限制本发明。因此，单数名词「一个」与「该」亦包含复数型态，除非文字明确地另作表示。此外，当说明书中使用「包含」时，系仅指出所述的特征、整数、步骤、操作、组件、及/或组成，而非用以排除或加入一个或多个其它特征、整数、步骤、操作、组件、及/或其群组。

除非另作定义，在此所有词汇(包含技术与科学词汇)均属本领域技术人员的一般理解。此外，除非明白表示，词汇于一般字典中的定义应解释为与其相关技术领域的文章中意义一致，而不应解释为理想状态或过分正式的语态。