[发明专利]测试系统有效

专利信息
申请号: 201010595633.3 申请日: 2010-12-16
公开(公告)号: CN102401877A 公开(公告)日: 2012-04-04
发明(设计)人: 宁树梁 申请(专利权)人: 南亚科技股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 代理人: 余朦;王艳春
地址: 中国台湾桃园县龟山*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种测试系统,包括:

测试机台,根据第一操作时脉,输出至少两个测试向量;以及

待测装置,接收测试向量,用以产生测试结果,并包括:

组合逻辑电路,包括:

第一储存模块,根据第一操作时脉,储存测试向量;以及

第二储存模块,根据第二操作时脉,储存至少两个输出向量,并根据所述第二操作时脉,输出输出向量,所述第二操作时脉的频率大于所述第一操作时脉的频率;

其特征在于,当测试向量均储存于所述第一储存模块之中时,所述第一储存模块将所储存的测试向量作为输出向量,并将输出向量输出至所述第二储存模块;以及

主体电路,根据所述第二储存模块所输出的输出向量,产生所述测试结果,所述测试机台根据所述测试结果,得知所述主体电路是否正常。

2.根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,测试向量依序被储存至所述第一储存模块,输出向量同时被所述第二储存模块所储存。

3.根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述第一储存模块包括至少两个正反器;

在第一期间,正反器中的第一正反器储存测试向量中的第一测试向量;

在第二期间,所述第一正反器所储存的所述第一测试向量被传送至正反器中的第二正反器,并且所述第一正反器储存测试向量中的第二测试向量。

4.根据权利要求3所述的测试系统,其特征在于,所述第二储存模块包括至少两个正反器;

在第三期间,所述第二正反器将所储存的所述第一测试向量作为输出向量中的第一输出向量,并且所述第一输出向量被传送并储存至所述第二储存模块的正反器中的第三正反器,所述第一正反器将所储存的所述第二测试向量作为输出向量中的第二输出向量,并且所述第二输出向量被传送并储存至所述第二储存模块的正反器中的第四正反器。

5.根据权利要求4所述的测试系统,其特征在于,第一至第四正反器均为正缘触发正反器。

6.根据权利要求4所述的测试系统,其特征在于,第一至第四正反器均为负缘触发正反器。

7.根据权利要求4所述的测试系统,其特征在于,第一及第四正反器均为正缘触发正反器,第二及第三正反器均为负缘触发正反器。

8.根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述测试机台还提供起始向量;

所述组合逻辑电路还包括:

重置模块,当接收到所述起始向量时,产生重置信号;以及

计数模块,当接收到所述重置信号时,便开始计数,当计数到默认值时,所述第一储存模块所储存的测试向量便被作为输出向量,并被传送至所述第二储存模块。

9.根据如权利要求8所述的测试系统,其特征在于,所述第一储存模块具有多个缓存器,用以储存测试向量,所述第二储存模块具有多个缓存器,用以储存输出向量,所述第一储存模块的缓存器数量与所述第二储存模块的缓存器数量相等,并且所述默认值与所述第一储存模块的缓存器数量有关。

10.根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述主体电路包括:

记忆胞数组,具有多个记忆胞;以及

存取模块,根据所述第二储存模块所储存的输出向量,对所述多个记忆胞进行存取动作,所述存取动作所产生的存取结果作为所述测试结果。

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