[发明专利]红外法向发射率测量装置及方法无效
申请号: | 201010594721.1 | 申请日: | 2010-12-17 |
公开(公告)号: | CN102095750A | 公开(公告)日: | 2011-06-15 |
发明(设计)人: | 冯国进;郑春弟 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20;G01J5/00 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王莹 |
地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 红外 发射 测量 装置 方法 | ||
1.一种红外法向发射率测量装置,其特征在于,包括:依次连接的测量模块(1)、存储模块(2)和计算模块(3),
所述测量模块(1),用于测量待测信号数据和已知红外法向发射率的标准黑体的预设信号数据,并将所述待测信号数据和所述预设信号数据发送至所述存储模块,所述预设信号数据为以所述已知红外法向发射率的标准黑体为测量对象时,测得的信号数据,所述待测信号数据为以待测样品为测量对象时,测得的信号数据;
所述存储模块(2),用于存储所述待测信号数据、所述预设信号数据和所述已知红外法向发射率的标准黑体的红外法向发射率;
所述计算模块(3),用于根据所述待测信号数据、所述预设信号数据和所述已知红外法向发射率的标准黑体的红外法向发射率计算所述待测样品的红外法向发射率。
2.如权利要求1所述的红外法向发射率测量装置,其特征在于,所述装置还包括:显示模块(4),用于显示所述待测样品的红外法向发射率。
3.如权利要求1所述的红外法向发射率测量装置,其特征在于,所述测量模块(1)包括:探测器(1-1)、聚光器(1-2)、位移台(1-3)、温度控制器(1-4)、比较器(1-5)和位移控制器(1-6),所述聚光器(1-2)用于将光路准直并汇聚,所述探测器(1-1)与所述位移台(1-3)分别置于所述聚光器(1-2)的两侧,所述温度控制器(1-4)设于所述位移台(1-3)上,所述位移台(1-3)与所述位移控制器(1-6)连接,所述位移控制器(1-6)与所述比较器(1-5)连接,所述比较器(1-5)与所述探测器(1-1)连接,所述探测器(1-1)与所述存储模块(2)连接。
4.如权利要求1所述的红外法向发射率测量装置,其特征在于,所述检测模块还包括:氮气舱(1-7),所述氮气舱(1-7)为一封闭且充满氮气的容器,所述位移台(1-3)设于所述氮气舱(1-7)中。
5.如权利要求1所述的红外法向发射率测量装置,其特征在于,所述待测样品的红外发射光在2μm~25μm的波段范围内。
6.一种基于权利要求1-5任一项所述的红外法向发射率测量装置的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:以已知红外法向发射率的标准黑体为测量对象,测量预设信号数据,并将所述预设信号数据存储至存储模块;
S2:以待测样品为测量对象,测量待测信号数据,并将所述待测信号数据存储至存储模块;
S3:计算模块根据下列公式计算所述待测样品的红外法向发射率,
其中,X为待测样品的红外法向发射率,B为待测信号数据,Z为已知红外法向发射率的标准黑体的红外法向发射率,Y为预设信号数据。
7.如权利要求6所述的测量方法,其特征在于,步骤S1进一步包括步骤:
S1.1:将所述标准黑体以及待测样品置于所述位移台上,所述待测样品置于温度控制器中,由位移控制器控制移动台在所述标准黑体的红外发射光可被探测器接收到的范围内移动,探测器实时将产生的信号数据发送至比较器;
S1.2:比较器接收到的信号数据最大时,停止移动移动台,将最大的信号数据发送至存储模块;
S1.3:所述最大的信号数据作为预设信号数据,并将其存储至存储模块。
8.如权利要求7所述的测量方法,其特征在于,步骤S2进一步包括:
S2.1由位移控制器控制移动台在所述待测样品的红外发射光可被探测器接收到的范围内移动,探测器实时将产生的信号数据发送至比较器;
S2.2:比较器接收到的信号数据最大时,停止移动移动台,将最大的信号数据发送至存储模块;
S2.3:所述最大的信号数据作为待测信号数据,并将其存储至存储模块。
9.如权利要求6所述的测量方法,其特征在于,步骤S3之后还包括步骤:
S4:显示模块显示所述待测样品的红外法向发射率。
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