[发明专利]光拾取装置和使用该光拾取装置的光盘装置有效
申请号: | 201010573373.X | 申请日: | 2010-11-30 |
公开(公告)号: | CN102136279A | 公开(公告)日: | 2011-07-27 |
发明(设计)人: | 中村俊辉;中井伸郎;木村茂治 | 申请(专利权)人: | 日立视听媒介电子股份有限公司 |
主分类号: | G11B7/09 | 分类号: | G11B7/09;G11B7/135 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳;朱弋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 拾取 装置 使用 光盘 | ||
技术领域
本发明涉及光拾取装置和光盘装置。
背景技术
作为本技术领域的背景技术,例如有日本特开2006-344344号公报(专利文献1)。本公报中记载了“从具有多个记录层的光盘精度良好地取得所需要的信号”。此外,例如有日本特开2006-344380号公报(专利文献2)。本公报中记载了“即使在使用具有2面信息记录面的能够记录的光存储介质的情况下,也检测出偏移较少的跟踪误差信号”。进而,例如非专利文献1中记载了“在其他层没有杂散光的区域配置跟踪用光电检测器”,该结构在日本特开2004-281026(专利文献3)中也有记载。
此外,例如有日本特开2008-102998号公报(专利文献4)。本公报中记载了“构成分割元件的各区域和光检测器的受光部,使得在使焦点合焦在光盘的目标信息记录层上的情况下,来自目标信息记录层的反射光束在光检测器的受光部上汇聚为焦点,来自目标信息记录层以外的信息记录层的反射光束不会照射到光检测器的受光部。”
近年来,存在下述课题,即在记录层多层化的光盘的记录或再现时,在不是再现对象的记录层上反射的杂散光入射到光检测器面上成为干扰成分,使光检测器的检测信号变动。特别是记录层多层化为3层以上的光盘中,在多个层上产生多余光束,所以干扰成分增加,上述检测信号的变动进一步增大。对于上述课题,专利文献4中,设置具有多个区域的分割元件,将在光盘上反射的光束,分割为射出方向不同的多条光束,从而分离杂散光和信号光,抑制检测信号的变动。
但是,上述结构中,必须对DPP法的用于跟踪误差信号的信号进行10倍左右的信号放大,存在会使没有完全分离而微量残留的杂散光引起的信号抖动成分、和损伤或污渍等干扰成分大幅放大的课题。结果,放大的干扰成分会漏入DPP信号,难以得到稳定的高品质的记录或再现品质。
专利文献1:日本特开2006-344344号公报
专利文献2:日本特开2006-344380号公报
专利文献3:日本特开2004-281026号公报
专利文献4:日本特开2008-102998号公报
非专利文献1:日本电子情报通信学会信学技报CPM2005-149(2005-10)
发明内容
本发明的目的在于,提供一种光拾取装置和光盘装置,其能够在抑制电信号放大的同时生成DPP信号,大幅减少干扰成分漏入检测信号,得到稳定的高品质的记录或再现品质。此外,还使构成能够抑制信号放大的信号检测方式下的光拾取装置接口的信号端子数最小化且简化。
本发明的效果是能够抑制漏入透镜错误信号的多层光盘的杂散光或光盘损伤、污渍等的干扰成分被信号放大器放大,在多层光盘的再现/记录时能够检测出良好的信号。
以上目的能够通过例如权利要求中记载的发明达成。
本发明能够提供一种光拾取装置,其包括:激光源;物镜,其使从该激光源射出的激光束聚光到光盘上;光束分割元件,其将光盘反射的信号光束分割为多条光束;和光检测器,其具有用于分别接收分割为多条光束的上述信号光束的多个受光面,其中,通过上述光束分割元件将上述信号光束分割为包含推挽信号区域的光束和不包含推挽信号区域的光束的至少2条光束,通过上述光检测器检测分割后的信号光束中的除去了包含上述推挽信号区域的光束之后的光束周边部区域的光束,使用来自上述光束周边部区域的光束的检测信号,输出用于生成作为跟踪误差信号的DPD信号的信号。
本发明还能够提供一种光拾取装置,其包括:激光源;物镜,其使从该激光源射出的激光束聚光到光盘上;光束分割元件,其将光盘反射的信号光束分割为多条光束;和光检测器,其具有用于分别接收分割为多条光束的上述信号光束的多个受光面,其中,上述光束分割元件是衍射光栅,并且被分割为多个衍射区域,具备以光量集中为规定次数和规定符号的衍射光的方式闪耀化的衍射区域。
本发明还提供一种光盘装置,其搭载有上述的光拾取装置;驱动该光拾取装置内的上述激光源的激光点亮电路;使用由上述光拾取装置内的上述光检测器检测出的信号,生成聚焦误差信号和跟踪误差信号的伺服信号生成电路;和对记录在光盘上的信息信号进行再现的信息信号再现电路。
根据本发明,能够提供一种光拾取装置和光盘装置,其能够减少杂散光引起的干扰对检测信号的影响,能够进行高品质的信号检测。
附图说明
图1是表示本发明中的光拾取装置的结构例的概要图。
图2是表示现有例中的光束分割元件的概要图。
图3是表示现有例中的光检测器的结构的概要图。
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