[发明专利]采用可编程继电器结构的可编程逻辑控制器自动测试平台

说明书

技术领域

本发明涉及可编程逻辑控制器(PLC)的功能和性能测试，具体地，涉及一种采用可编程继电器结构的针对多个具有CPU的可编程逻辑控制器的自动测试平台，该自动测试平台可用于PLC中的模拟量模块、数字量模块的自动测试。

背景技术

在现有技术中，绝大多数PLC测试工作是手动完成的，这是一项巨大的重复工作，不仅耗费大量时间，而且还不准确。

自动测试平台的出现提供了一种省时省力的方法。但是，传统的自动测试平台在下列情况中不能满足测试要求：

1.因为仅存在一个单独用于输入和输出的公共地端(Com端)的继电器，所以传统的测试系统仅可用于非隔离系统，无法进行隔离通道测试；

2.因为印刷电路板(PCB)的尺寸限制，所以继电器的数量受限制。并且输入和输出继电器的数量是固定的，无法进行大量通道的测试；

3.因为传统的测试方法仅能测试一个具备CPU的PLC和它的多个扩展模块，因此，如果需要对多个上述PLC的多台CPU及其扩展样本进行测试，则必须重复样本嵌入测试通道和测试样本；

4.尽管对数字模块测试精确度要求较低，但是正常地，数字模块总是具有大量通道。所以需要很多人力来进行类似阈值电压、电流的测试以及频率测试等等，因此针对数字模块的测试操作不理想。

发明内容

针对上述的缺点和不足，本发明提出了一种具有可编程继电器结构的针对多个具有CPU的可编程逻辑控制器的自动测试平台。

本发明目的是使用可编程的继电器结构来建立自动测试平台，测试多个具有CPU的可编程逻辑控制器的隔离/非隔离通道，以改进测试效率并降低测试周期和开发成本。

本发明的平台硬件由多个测量仪器、通过GPIB或RS232或ModBUS等通信端口与测量仪器进行通信的计算机以及采用辅助的继电器类型PLC实现的测试通道选择控制模块组成。

测试通道选择控制模块的结构使测试平台设置更加灵活并能在PLC的I/O测试中得到更广泛的应用。本发明的系统支持模拟量模块、数字量模块的测试。

具体地，根据本发明，提供一种针对多个具有CPU的可编程逻辑控制器(PLC)测试样本进行测试的自动测试平台，包括：多个测量仪器，用于配合测试需要提供相应的测试功能，所述多个测量仪器包括可编程直流电源、万用表、可控温箱；测试通道选择控制模块，包括：具有可编程继电器结构的基本控制模块，基本控制模块与多个PLC测试样本的输入/输出通道连接，接收计算机的通道设置指令，根据通道设置指令来选择和控制测试样本的通道；通过通信端口与多个测量仪器、测试通道选择控制模块进行通信的计算机。其中，计算机通过通信改变可编程直流电源的输出电压或电流以通过测试通道选择控制模块设定被测试PLC样本的输入模块的测试输入电压或电流值；计算机通过通信读取被测试PLC样本的输入模块的测试输出电压或电流信号的内部转换值；计算机通过通信控制和修改被测试PLC样本的输出模块的测试输入电压或电流信号的内部转换值；计算机通过通信来读取经由测试通道选择控制模块传送到万用表、并被万用表所测量的被测试PLC样本的输出模块的测试输出电压或电流值。

其中，测试通道选择控制模块还包括扩展控制模块，附接到基本控制模块，具有可编程继电器结构，与多个PLC测试样本的输入/输出通道连接。基本控制模块接收计算机的通道设置指令，来控制扩展控制模块选择和控制测试样本的通道。

其中，计算机使用LabVIEW软件根据ModBUS地址顺序监控被测试的多个PLC测试样本。

其中，基本控制模块选用TWDLCAE40DRF型号PLC以及扩展控制模块选用多个TWDDRA16RT型号PLC。

其中，测试PLC测试样本的数字或模拟量输入模块，或者测试PLC测试样本的数字或模拟量输出模块。

其中，PLC测试样本的模块的各通道之间是隔离的或者是非隔离的。

其中，如果测试PLC测试样本的输入隔离模块的通道，则将测试通道选择控制模块中的所有的继电器切换到输入通道和公共地端通道；如果测试PLC测试样本的输出隔离模块的通道，则将测试通道选择控制模块中的所有的继电器切换到输出通道和公共地端通道；如果测试PLC测试样本是输入非隔离模块，则可仅使用测试通道选择控制模块中的一个继电器控制公共地端通道，然后使用测试通道选择控制模块中的其它继电器控制其它通道的输入；如果测试PLC测试样本是输出非隔离模块，则可仅使用测试通道选择控制模块中的一个继电器控制公共地端通道，然后使用测试通道选择控制模块中的其它继电器控制其它通道的输出。