[发明专利]采用可编程继电器结构的可编程逻辑控制器自动测试平台有效

专利信息
申请号: 201010515723.7 申请日: 2010-10-22
公开(公告)号: CN102455701A 公开(公告)日: 2012-05-16
发明(设计)人: 冯慧文;舒晓文;段祥雁 申请(专利权)人: 施耐德电器工业公司
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 钱大勇
地址: 法国吕埃*** 国省代码: 法国;FR
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摘要:
搜索关键词: 采用 可编程 继电器 结构 逻辑 控制器 自动 测试 平台
【权利要求书】:

1.一种针对多个具有CPU的可编程逻辑控制器(PLC)测试样本进行测试的自动测试平台,包括:

多个测量仪器,用于配合测试需要提供相应的测试功能,所述多个测量仪器包括可编程直流电源、万用表、可控温箱;

测试通道选择控制模块,包括:具有可编程继电器结构的基本控制模块,基本控制模块与多个PLC测试样本的输入/输出通道连接,接收计算机的通道设置指令,根据通道设置指令来选择和控制测试样本的通道;

通过通信端口与多个测量仪器、测试通道选择控制模块进行通信的计算机,

其中,计算机通过通信改变可编程直流电源的输出电压或电流以通过测试通道选择控制模块设定被测试PLC样本的输入模块的测试输入电压或电流值;计算机通过通信读取被测试PLC样本的输入模块的测试输出电压或电流信号的内部转换值;计算机通过通信控制和修改被测试PLC样本的输出模块的测试输入电压或电流信号的内部转换值;计算机通过通信来读取经由测试通道选择控制模块传送到万用表、并被万用表所测量的被测试PLC样本的输出模块的测试输出电压或电流值。

2.如权利要求1所述的自动测试平台,测试通道选择控制模块还包括扩展控制模块,附接到基本控制模块,具有可编程继电器结构,与多个PLC测试样本的输入/输出通道连接,

其中,基本控制模块接收计算机的通道设置指令,来控制扩展控制模块选择和控制测试样本的通道。

3.如权利要求1或2所述的自动测试平台,其中计算机使用LabVIEW软件根据ModBUS地址顺序监控被测试的多个PLC测试样本。

4.如权利要求2所述的自动测试平台,其中基本控制模块选用TWDLCAE40DRF型号PLC以及扩展控制模块选用多个TWDDRA16RT型号PLC。

5.如权利要求1或2所述的自动测试平台,其中测试PLC测试样本的数字或模拟量输入模块,或者测试PLC测试样本的数字或模拟量输出模块。

6.如权利要求5所述的自动测试平台,其中PLC测试样本的模块的各通道之间是隔离的或者是非隔离的。

7.如权利要求6所述的自动测试平台,其中

如果测试PLC测试样本的输入隔离模块的通道,则将测试通道选择控制模块中的所有的继电器切换到输入通道和公共地端通道;

如果测试PLC测试样本的输出隔离模块的通道,则将测试通道选择控制模块中的所有的继电器切换到输出通道和公共地端通道;

如果测试PLC测试样本是输入非隔离模块,则可仅使用测试通道选择控制模块中的一个继电器控制公共地端通道,然后使用测试通道选择控制模块中的其它继电器控制其它通道的输入;

如果测试PLC测试样本是输出非隔离模块,则可仅使用测试通道选择控制模块中的一个继电器控制公共地端通道,然后使用测试通道选择控制模块中的其它继电器控制其它通道的输出。

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