[发明专利]防伪元件隐藏图像明暗区域对比度的检测方法与装置

说明书

技术领域

本发明涉及防伪技术，尤其是一种防伪元件隐藏图像明暗区域对比度的检测方法与装置。

背景技术

目前，在防伪技术领域，采用液晶技术制作的带有隐藏正负片信息的液晶光变防伪元件，由于具有隐藏精细图文、可实现正负片转换等二线防伪特征而备受青睐。将该防伪元件放置在偏振片下时，可以观察到其隐藏的正负片图像，也即：精细图文。调整偏振片与该防伪元件的角度，在防伪元件隐藏的正负片图像呈现最亮区域与最暗区域时，其呈现的所有黑暗区域组成了图像，呈现的所有明亮区域组成了背景，从而形成正片。若采用的偏振片为线偏振片，将线偏振片水平转动一定角度时，防伪元件隐藏的正负片图像的明亮区域与黑暗区域互换，从而形成负片。若采用的偏振片为圆偏振片，改变圆偏振片的旋向时，防伪元件隐藏的正负片图像的明亮区域与黑暗区域互换，从而形成负片。

防伪元件隐藏的正负片图像呈现的明亮区域与黑暗区域的对比度，以下简称为：明暗区域的对比度，直接影响着该正负片图像的清晰程度，从而决定了防伪元件的质量。对比度越大，正负片图像就越清晰，表示防伪元件质量越好；反之，对比度越小，正负片图像就越不清晰，表示防伪元件的质量越差。因此，对隐藏的正负片图像呈现的明暗区域的对比度的检测、控制尤为重要。

然而，在实现本发明的过程中，发明人发现，现有技术至少存在以下问题：

目前，只能通过人工对防伪元件隐藏的正负片图像明暗区域的对比度进行定性检测，检测时，观察者采用偏振片观察防伪元件隐藏的正负片图像，并通过将偏振片转动90度来实现正负片之间的切换，通过比较正片与负片时图像的清晰程度，来判断防伪元件隐藏的正负片图像明暗区域的对比度，由于不同的观察者对颜色与明暗的感知度各不相同，受人工视觉的主观性影响，无法对防伪元件的质量进行定量判断，因此，无法实现对防伪元件质量的精确、准确控制。

发明内容

本发明实施例所要解决的技术问题是：提供一种防伪元件隐藏图像明暗区域对比度的检测方法与装置，实现防伪元件隐藏的正负片图像明暗区域的对比度的定量检测，从而实现对防伪元件质量的精确、准确控制。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供的一种防伪元件隐藏图像明暗区域对比度的检测方法，包括：

入射光通过偏振片入射防伪元件上的测量区域；

调整偏振片，使防伪元件的隐藏图像分别形成正片与负片，并测量正片与负片时测量区域的反射光谱，所述反射光谱表示入射光波段内各波长的反射率；

根据正片与负片的反射光谱，获取正片与负片反射率的差值或比值，以便由所述差值或比值确定所述防伪元件隐藏图像明暗区域的对比度。

本发明实施例提供的一种防伪元件隐藏图像明暗区域对比度的检测装置，包括：

斩光器，用于将光源发射的光束分为波段相同的参考光与入射光；

偏振片，用于将入射的所述入射光转变为偏振光，通过调整所述偏振片，可使防伪元件的隐藏图像分别形成正片与负片；

物光检测器，用于接收所述偏振光经所述测量区域反射后的反射光，检测入射光波段内各波长的反射光强度，并将所述反射光强度转换为第二电信号；

参考光检测器，用于接收所述参考光，检测所述入射光波段内各波长的参考光强度，并将该参考光强度转换为第一电信号；

计算器，用于在防伪元件的隐藏图像形成正片或负片时，分别针对所述入射光波段内的各波长，计算第二电信号与第一电信号的比值，得到正片或负片时的反射光谱，以便根据正片与负片时的反射光谱，获取正片与负片的差值或比值，从而由所述差值或比值确定所述防伪元件隐藏图像明暗区域的对比度，所述反射光谱表示所述入射光波段内各波长的反射率。

本发明上述实施例提供的防伪元件隐藏图像明暗区域对比度的检测方法与装置，使入射光通过偏振片入射至防伪元件上的测量区域，通过调整偏振片使防伪元件的隐藏图像分别形成正片或负片，并测量正片或负片时测量区域的反射光谱，获取入射光波段内各波长在正片与负片时反射率的差值，从而根据该差值来确定防伪元件隐藏图像明暗区域的对比度，实现了对防伪元件隐藏的正负片图像明暗区域的对比度的定量检测，与现有技术相比，使得对防伪元件隐藏的正负片图像明暗区域的对比度的评价标准更加客观、一致，从而实现了对防伪元件质量的精确、准确控制。

下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。

附图说明