[发明专利]异硫氰酸苯酯和多孔氧化铝复合膜及其制备方法和用途

说明书

技术领域

本发明涉及一种复合膜及制备方法和用途，尤其是一种异硫氰酸苯酯和多孔氧化铝复合膜及其制备方法和用途。

背景技术

近年来，使用阳极氧化法获得的多孔氧化铝薄膜因其具有孔洞排列均匀、孔径一致等优点而引起了人们广泛的关注，纷纷意欲利用其作为基础，来复合不同的物质，以探索和拓展应用范围，改善和提升原有性能，如在2008年10月22日公开的中国发明专利申请公布说明书CN 101288830A中披露的一种“亲和性的壳聚糖-氨基硅烷-阳极氧化铝复合膜的制备方法”。它是先将阳极氧化铝膜与氨基硅烷反应，得到氨基硅烷-阳极氧化铝膜，再将带有氨基的阳极氧化铝膜经活化得到活化的氨基硅烷-阳极氧化铝膜，最后将活化的氨基硅烷-阳极氧化铝膜与壳聚糖酸性溶液反应后，得到改性的壳聚糖-氨基硅烷-阳极氧化铝复合膜。但是，无论是复合膜，还是其制备方法，均存在着不足之处，首先，作为在阳极氧化铝膜中复合氨基硅烷、壳聚糖而形成的复合膜只能用于亲和分离，而不能用作他用，尤其是不能用于环境有毒污染物2，2′，4，5，5′-五氯联苯的快速痕量检测；其次，制备方法不能制得对2，2′，4，5，5′-五氯联苯进行快速痕量检测的复合多孔氧化铝薄膜。

发明内容

本发明要解决的技术问题为克服现有技术中的不足之处，提供一种可对环境有毒污染物2，2′，4，5，5′-五氯联苯进行快速痕量检测的异硫氰酸苯酯和多孔氧化铝复合膜。

本发明要解决的另一个技术问题为提供一种上述异硫氰酸苯酯和多孔氧化铝复合膜的制备方法。

本发明要解决的还有一个技术问题为提供一种上述异硫氰酸苯酯和多孔氧化铝复合膜的用途。

为解决本发明的技术问题，所采用的技术方案为：异硫氰酸苯酯和多孔氧化铝复合膜包括多孔氧化铝薄膜，特别是，

所述多孔氧化铝薄膜的厚度为25～35μm、孔密度为10⁹～10¹¹/cm²、孔直径为25～35nm；

所述多孔氧化铝薄膜的孔内壁上覆有异硫氰酸苯酯。

作为异硫氰酸苯酯和多孔氧化铝复合膜的进一步改进，所述的多孔氧化铝薄膜的孔内壁上覆有的异硫氰酸苯酯的厚度为1～3nm；所述的多孔氧化铝薄膜的孔为通孔。

为解决本发明的另一个技术问题，所采用的另一个技术方案为：上述异硫氰酸苯酯和多孔氧化铝复合膜的制备方法包括使用阳极氧化法获得多孔氧化铝薄膜，特别是完成步骤如下：

先将多孔氧化铝薄膜置于浓度为10^-4～10^-6M的异硫氰酸苯酯的正己烷溶液中浸泡至少20h，再使用正己烷清洗掉多孔氧化铝薄膜表面的异硫氰酸苯酯，制得异硫氰酸苯酯和多孔氧化铝复合膜。

作为异硫氰酸苯酯和多孔氧化铝复合膜的制备方法的进一步改进，所述的使用阳极氧化法获得多孔氧化铝薄膜为，将铝片置于温度为1～5℃、浓度为0.2～0.4M的硫酸溶液中，于直流电压为25～29V下阳极氧化1～3h；所述的铝片的纯度为≥99.9％；所述的在将多孔氧化铝薄膜置于异硫氰酸苯酯的正己烷溶液中浸泡前，先将其置于浓度为4～8wt％的磷酸溶液中浸泡1～3h；所述的清洗为漂洗。

为解决本发明的还有一个技术问题，所采用的还有一个技术方案为：上述异硫氰酸苯酯和多孔氧化铝复合膜的用途为，先使用紫外光照射受2，2′，4，5，5′-五氯联苯污染的异硫氰酸苯酯和多孔氧化铝复合膜，再使用荧光光谱仪测量异硫氰酸苯酯和多孔氧化铝复合膜中的异硫氰酸苯酯的发射光谱强度，得到2，2′，4，5，5′-五氯联苯的含量。

作为异硫氰酸苯酯和多孔氧化铝复合膜的用途的进一步改进，所述的紫外光的波长范围为280～320nm。