[发明专利]微纳米薄膜试件摆锤式冲击装置

权利要求书

1.微纳米薄膜试件摆锤式冲击装置，它包括摆锤，其特征在于：它还包括工字板，在所述的工字板顶部连接有顶板并且在其底部连接有底座，在所述的底座上设置有左右支撑板，在所述的左右支撑板上连接有两个水平设置的导轨，一个具有凸壁的试件台的两侧分别套在所述的左右支撑板之间的两个导轨上并且能够与所述的两个导轨相滑动配合，一个其上套有丝母的微调转轴的一端连接在所述的试件台的中间位置并且其另一端与所述的右支撑板相连，所述的丝母与所述的微调转轴呈螺纹配合并且丝母侧壁固定在所述的两个导轨上，在所述的试件台凸壁的端面沿竖直方向开有试件夹持槽，在所述的凸壁上卡接有限位装置，所述的左支撑板的侧壁与所述的工字板底部侧壁相连，所述的摆锤包括摆杆，所述的摆杆的一端与挂轴转动相连并且其另一端连接有锤头，一个配重杆水平的穿过所述的锤头的中心设置，在所述的锤头两侧的配重杆上对称的连接有配重块，所述的挂轴通过开在工字板上的至少一个挂轴孔与工字板上部相连，所述的锤头与所述的试件夹持槽相对设置，在所述的锤头的端部安装有压电式力传感器，在安装有试件台一侧的底板的侧壁上通过支架连接有单筒显微镜，单筒显微镜的镜头能够通过调节装置正对所述的试件，在所述的顶板上设置有多个定位孔，在所述的定位孔内安装有电磁铁，所述的电磁铁与安装在顶板上的电磁触发装置相连。

2.根据权利要求1所述的微纳米薄膜试件摆锤式冲击装置，其特征在于：所述的调节装置包括安装在所述的支架上的左右滑轨，所述的左右滑轨的一端的端部通过连接板相连，在所述的左右滑轨上安装有通过推动装置能够与左右滑轨滑动配合的滑块，在所述的滑块顶部沿竖直方向连接有支架立轴，所述的支架立轴通过套在其上能够与其转动配合的连接块与沿水平方向设置的单筒显微镜的支架相连，所述的单筒显微镜安装在单筒显微镜的支架上。

3.根据权利要求2所述的微纳米薄膜试件摆锤式冲击装置，其特征在于：所述的推动装置包括沿水平方向设置的推杆，所述的推杆的一端与滑块的侧壁相连并且其另一端与所述的连接板螺纹连接。

4.根据权利要求3所述的微纳米薄膜试件摆锤式冲击装置，其特征在于：在与所述的连接板螺纹连接的一端的推杆上安装有旋钮。