[发明专利]依据题型分析学习弱点的系统及其方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种弱点分析系统及其方法，特别是指一种依据题型分析学习弱点的系统及其方法。

背景技术

现有辅助使用者学习的方式，绝大多数都是使用测验的方式，也就是在使用者阅读学习内容后，可以提供测验的功能，并在使用者完成测验后对测验结果进行分析，借以取得使用者在学习上弱点，并依据分析所得的弱点提供相关练习。

目前提供语言学习的各种软件(如字典软件等)、装置(如语言翻译机等)或服务器的弱点分析，大多是针对语言的语法、句型等项目来区分，这样分出来的分析项目往往比较琐碎，造成分析出来的弱点比较分散，例如，在现有TOEIC的题库中，大约200道试题就有50至100个分析项目。所以，若需要有效的分析出学习的弱点，则需要有大量的分析资料，也就是说，试题库的规模要非常大才可能提供大量的分析资料。事实上，目前提供语言学习的各种软件以及装置并没有足够的题库，因此，分析的结果并不一定准确。

另外，目前分析的结果通常是以柱状图或饼状图显示，由于分析的项目太多，因此用来显示分析结果的柱状图或饼状图无法有效的让使用者快速的得知学习上的弱点。

综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在使用者无法由小规模题库有效获得学习弱点的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此一问题。

发明内容

有鉴于现有技术存在无法由小规模题库有效获得学习弱点的问题，本发明于是公开一种依据题型分析学习弱点的系统及其方法，其中：

本发明所公开的依据题型分析学习弱点的系统，至少包含：储存模块，用以储存多个试题，一试题对应一题型；统计模块，用以依据历次测验结果统计各试题的正确率或错误率并产生与各题型的正确率或错误率相对应的统计结果；雷达图产生模块，用以依据统计结果产生对应各题型的正确率或错误率的雷达图；题型判断模块，用以依据统计结果判断正确率较低或错误率较高的题型；显示模块，用以显示雷达图；学习资源提供模块，用以依据正确率较低或错误率较高的题型提供相对应的学习资源。

本发明所公开的依据题型分析学习弱点的方法，其步骤至少包括：提供多个试题，一试题对应一题型；依据历次测验结果统计各试题的正确率或错误率并产生与各题型的正确率或错误率相对应的统计结果；依据统计结果产生对应各题型的正确率或错误率的雷达图；依据统计结果判断正确率较低或错误率较高的题型；显示雷达图；依据正确率较低或错误率较高的题型提供相对应的学习资源。

本发明所公开的系统与方法如上，与现有技术之间的差异在于本发明依据测验结果中各试题的正确率或错误率统计出各试题的题型的正确率或错误率，并依据统计结果显示雷达图及提供与正确率较低或错误率较高的题型相对应的学习资源，借以解决现有技术所存在的问题，并可以达成以较少数试题正确判断学习弱点的技术功效。

附图说明

图1为本发明所提的依据题型分析学习弱点的系统架构图。

图2为本发明实施例所提的雷达图。

图3为本发明所提的依据题型分析学习弱点的方法流程图。

【主要元件符号说明】

110 储存模块

120 统计模块

130 雷达图产生模块

140 显示模块

150 题型判断模块

160 学习资源提供模块

190 设定模块

200 雷达图

210 不规则区域

具体实施方式

以下将配合附图及实施例来详细说明本发明的特征与实施方式，内容足以使任何本领域技术人员能够轻易地充分理解本发明解决技术问题所应用的技术手段并据以实施，借此实现本发明可达成的功效。

本发明可以依据历次的测验结果，对测验结果中各试题的题型正确率或错误率进行统计，借以产生与统计结果相对应的雷达图，并依据统计出的测验结果较其他题型差的题型，提供相对应的学习资源。

本发明所提的测验结果是使用者进行测验后的结果，使用者所进行的测验即为做答试题的过程，一般而言，使用者的每一次测验都需要做答多个试题。本发明可以储存使用者每一次测验的测验结果，借以进行测验结果的统计。

本发明所提的学习资源是能够让使用者进行学习的资料，例如测验的试题，或是学习资料等，但本发明并不以此为限。其中，学习资料为可以让使用者了解试题的资料，例如试题的概念的说明，但本发明亦不以此为限。