[发明专利]使用磁间距损耗评估数据存储设备的方法和系统

说明书

技术领域

各种实施方式及其组合涉及通过确定磁间距损耗来评估数据存储设备。

背景技术

数据存储子系统包括各种用于使读/写磁头写入数据存储介质以及从数据存储介质进行读取的组件。记录通道是数据格式控制和数据存储介质之间的路径。在记录通道内，将写入信号传输到读/写磁头的传感器以便在数据存储介质上记录数据，并且由布置在读/写磁头上的读取传感器生成读取信号。

存储设备的许多潜在故障机制之一是重放信号质量或幅度的降级。重放信号的降级可能由几种情况引起，例如磁头到存储介质的间距增加、磁头和存储介质之间的气膜厚度增加、在磁头空气轴承表面上形成静止介质碎片微粒、在写入或读取磁头传感器的磁隙中随着时间的流逝出现极尖沉降等。

发明内容

在一个实施例中，提供了一种评估数据存储设备的性能的方法。此类评估的结果可以用于故障预测、存储设备设计、存储设备优化。

所述方法建立总体有效损耗参数阈值，确定所述数据存储设备的实际总体有效损耗参数，并且如果所述实际总体有效损耗参数大于所述总体有效损耗参数阈值，则所述方法使数据存储设备停止服务。

在另一个实施例中，提供了一种包括计算机可读介质的制品，所述计算机可读介质包括布置在其中的计算机可读程序代码以评估数据存储设备的性能。所述计算机可读程序代码包括一系列计算机可读程序步骤，用于实现检索预定总体有效损耗参数阈值，确定所述数据存储设备的实际总体有效损耗参数，以及如果所述实际总体有效损耗参数大于所述总体有效损耗参数阈值，则生成使所述数据存储设备停止服务的消息。

在再一个实施例中，提供了一种编码在计算机可读介质中并可与可编程计算机处理器一起使用以评估磁记录系统的性能的计算机程序产品。所述计算机程序产品包括计算机可读程序代码，所述计算机可读程序代码使所述可编程处理器检索预定总体有效损耗参数阈值，确定数据存储设备的实际总体有效损耗参数，以及如果所述实际总体有效损耗参数大于所述总体有效损耗参数阈值，则使所述数据存储设备停止服务。

附图说明

通过结合附图阅读以下详细描述，将更好地理解本发明，在所述附图中，相同的标号用于指定相同的元素，这些附图是：

图1是其中实现本发明的各实施例的示例性硬件和软件环境的图示；

图2是图1的示例性带驱动单元的图示；

图3A概述了申请人的方法的特定初始步骤；

图3B概述了申请人的方法的特定附加步骤；

图3C概述了申请人的方法的特定附加步骤；

图4以图形方式示出了两组FIR抽头(tap)值，其中在捕获第一组抽头值之后的时间捕获第二组抽头值；

图5以图形方式示出了来自初始时间t1和后续时间t2的FIR幅度响应，其中时间t2在磁记录系统的某次使用之后；以及

图6以图形方式示出了FIR幅度响应比曲线和华莱士间距损耗参数(Wallace spacing loss parameter)到此曲线的最小均方(LMS)拟合。

具体实施方式

参考附图在以下描述中的优选实施例中描述了本发明，其中相同的编号表示相同或相似的元素。在整个说明书中，对“一个实施例”、“某一实施例”或类似语言的引用指结合该实施例描述的特定特性、结构或特征包括在本发明的至少一个实施例中。因此，在整个说明书中出现的短语“在一个实施例中”、“在某个实施例中”和类似语言可以但不一定全部指同一实施例。

本发明的所述特性、结构或特征可以以任何适合的方式组合在一个或多个实施例中。在以下描述中，叙述了许多特定细节以彻底理解本发明的实施例。但是，相关领域的技术人员将意识到，可以在没有一个或多个特定细节或可以通过其他方法、组件、材料等实现本发明。在其他情况下，没有详细示出或描述公知的结构、材料或操作以避免未重点突出本发明的各方面。

通常作为逻辑流程图给出所包括的示意性流程图。因此，示出的顺序和标记的步骤指示提供的方法的一个实施例。可以构想在功能、逻辑或效应上与示出的方法的一个或多个步骤或其各部分等价的其他步骤和方法。此外，所采用的格式和符号用于解释所述方法的逻辑步骤，并且被理解为并非限制所述方法的范围。虽然可以在流程图中采用各种箭头类型和线型，但是它们被理解为并非限制对应方法的范围。实际上，可以使用某些箭头或其他连接符来仅指示所述方法的逻辑流程。例如，箭头可以指示所示方法的枚举步骤之间的未指定持续时间的等待或监视周期。此外，特定方法发生的顺序可以严格遵循也可以不严格遵循示出的对应步骤的顺序。