[发明专利]使用磁间距损耗评估数据存储设备的方法和系统有效
| 申请号: | 201010266276.6 | 申请日: | 2010-08-27 |
| 公开(公告)号: | CN102005210A | 公开(公告)日: | 2011-04-06 |
| 发明(设计)人: | E·R·克里斯腾森;W·S·恰尔内斯基 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
| 主分类号: | G11B5/58 | 分类号: | G11B5/58 |
| 代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 于静;杨晓光 |
| 地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 使用 间距 损耗 评估 数据 存储 设备 方法 系统 | ||
1.一种评估数据存储设备的性能的方法,所述方法包括:
建立总体有效损耗参数阈值;
确定所述数据存储设备的实际总体有效损耗参数;
如果所述实际总体有效损耗参数大于所述总体有效损耗参数阈值,则在运行上使所述数据存储设备停止服务。
2.如权利要求1中所述的方法,还包括:
如果所述实际总体有效损耗参数不大于所述总体有效损耗参数阈值,则在运行上使用所述实际总体有效损耗参数来确定当所述数据存储设备的总体有效损耗参数将大于所述总体有效损耗参数阈值时的未来时间;以及
安排在所述未来时间评估所述数据存储设备。
3.如权利要求1中所述的方法,其中确定实际总体有效损耗参数包括:
在时间t1测量第一多个有限脉冲响应FIR抽头;以及
通过计算所述第一多个FIR抽头的傅立叶变换确定第一FIR传递函数。
4.如权利要求3中所述的方法,还包括:
在时间t2测量第二多个FIR抽头;以及
通过计算所述第二多个FIR抽头的傅立叶变换确定第二FIR传递函数;
其中时间t2在时间t1之后。
5.如权利要求4中所述的方法,还包括:使用所述第一FIR传递函数和所述第二FIR传递函数确定时间t2与时间t1之间的FIR幅度响应比。
6.如权利要求5中所述的方法,还包括:使用华莱士间距损耗函数以及所述时间t2与时间t1之间的FIR幅度响应比来计算所述实际有效损耗参数。
7.如权利要求6中所述的方法,还包括:求解总体有效损耗参数(d):
其中(Gt2)是所述第二FIR传递函数,(Gt1)是所述第一传递函数,(L)是幅度转变密度,(n)是常数。
8.一种系统,其包括适于执行根据权利要求1-7中的任一权利要求的方法的所有步骤的装置。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国际商业机器公司,未经国际商业机器公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010266276.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





