[发明专利]物镜和包括该物镜的光学拾取器

权利要求书

1.一种物镜(2)，其包括被布置于共用光轴(A)的固体浸没透镜(4)和变焦透镜(6)，其中所述变焦透镜(6)包括中心区(8)和围绕所述中心区(8)的周边区(10)，其特征在于：所述周边区(10)适于构成用于远场模式的光学系统，并且所述变焦透镜(6)的中心区(8)与所述固体浸没透镜(4)一起适于构成用于近场模式的光学系统，所述固体浸没透镜(4)和所述变焦透镜(6)适于一体地移动。

2.根据权利要求1所述的物镜(2)，其特征在于，所述固体浸没透镜(4)和所述变焦透镜(6)的所述中心区(8)构成近场光学系统。

3.根据权利要求1或2所述的物镜(2)，其特征在于，所述变焦透镜(6)的所述周边区(10)被设计成允许光学远场操作。

4.根据先前权利要求中的一项所述物镜(2)，其特征在于，所述中心区(8)的焦距比所述周边区(10)的焦距短。

5.根据先前权利要求中的一项所述的物镜(2)，其特征在于，环形孔径(12)被布置在所述变焦透镜(6)的所述中心区(8)和所述周边区(10)之间。

6.一种用于在远场模式和近场模式中操作的光学拾取器(24)，其特征在于，所述光学拾取器(24)包括根据权利要求1至5中任一项所述的物镜(2)。

7.根据权利要求6所述的光学拾取器，其特征在于，信号光束(42)的第一部分被引导进入第一分析光束路径(44)，所述信号光束(42)的第二部分被引导进入第二分析光束路径(46)，其中所述第一分析光束路径(44)被设置为用于对焦控制。

8.根据权利要求6所述的光学拾取器(24)，其特征在于，通过所述固体浸没透镜(4)和所述变焦透镜(6)的所述中心区(8)的信号光束(42)的第一部分耦合入第一分析光束路径(44)，通过所述变焦透镜(6)的所述周边区(10)的所述信号光束(42)的第二部分耦合入第二分析光束路径(46)，其中所述第二分析光束路径(46)被设置为用于对焦控制。

9.一种用于操作光学拾取器(24)的方法，所述光学拾取器(24)包括根据权利要求至5中的一项所述的物镜(2)，所述方法包括如下步骤：

-基于使用用于在远场模式中工作的光学系统进行的对焦控制使所述物镜(2)接近光存储介质(22)的面(21)以达到所述物镜(2)和所述光存储介质(22)的所述面(21)之间的远场工作距离(DF)，其中所述远场工作距离(DF)至少近似地等于所述变焦透镜(6)的所述周边区(10)的焦距；和

-使所述物镜(2)接近所述光存储介质(22)的所述面(21)以达到近场工作距离(NF)，其中所述近场工作距离(NF)比所述远场工作距离(DF)短。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，使所述物镜(2)接近所述近场工作距离(NF)的步骤通过使所述物镜(2)移动离开所述远场工作距离(DF)预定的值来实现。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述预定的值至少近似地等于所述变焦透镜(6)的所述周边区(10)的焦距与所述近场工作距离(NF)之间的差。

12.根据权利要求9至11中的一项所述的方法，其特征在于，还具有以下步骤：

-使信号光束(42)的第一部分耦合至第一分析光束路径(44)，所述第一分析光束路径(44)被设置为用于对焦控制；和

-将所述信号光束(42)的第二部分耦合至第二分析光束路径(46)；

其中使所述光存储介质(22)的所述面(21)接近所述远场工作距离(DF)的步骤通过使用所述第一分析光束路径(44)的对焦控制来实现。

13.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，在远场操作期间，所述第一分析光束路径被用于控制所述远场工作距离(DF)，而在近场操作期间，所述第二分析光束路径被用于控制所述近场工作距离(NF)，并且所述第一分析光束路径(44)被用于获取数据。