[发明专利]荧光量或吸光量的测定方法及测定装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种测定由试样产生的荧光的量及被试样吸收的光的量的荧光量或吸光量的测定方法及测定装置。

更详细地说，涉及下述的荧光量测定方法以及荧光量测定装置，即，将为了荧光测定而向试样照射的激励光，标准化为“可溯源至国家标准且每单位面积上为指定光量”的值，由此，作为“可溯源至国家标准的每单位面积的光量”，定量地测定由试样产生的荧光量，而不是如现有技术那样的比(比例值)。

相同地，涉及下述的吸光量测定方法以及吸光量测定装置，即，将吸光测定中向试样照射的照射光，标准化为“可溯源至国家标准且每单位面积上为指定光量”的值，由此，作为“可溯源至国家标准的每单位面积的光量”，定量地测定由试样吸收的吸收光量，而不是如现有技术那样的比(比例值)。

背景技术

作为读取DNA微矩阵的装置，已知微矩阵扫描仪。使用微矩阵扫描仪，向DNA微矩阵照射激光，通过一边扫描DNA微矩阵的图像一边读入，从而可以将目标分子的荧光量分布作为二维图像而测定。

专利文献1：日本特开2004-333333号公报

专利文献2：日本特开2004-191232号公报

发明内容

但是，在上述微矩阵扫描仪中，由于向DNA微矩阵照射激光，一边利用PMT(光电倍增管：Photomultiplier)进行电流放大，一边测定从试样(目标分子)产生的荧光，所以在受光单元的线性及放大率的稳定性上存在极限，难以得到与向试样照射的激励光量精度高的相干系数。因此，测定的荧光量通常以任意单位表示。以下，将利用该PMT等受光器进行受光并测定的荧光量称为读取值。

另外，由于对于激光等激励光的测定条件没有校正手段，所以对于读取荧光量分布而得到的二维图像，即使可以进行1个画面内的相对测定，也无法对多次测定或对不同机体间的读取值进行直接比较。

另外，通常对于微矩阵扫描仪的测定装置，没有测定精度及再现性的规定，即使是相同制造商的同一机型，也无法保证测定相同试样时的读取值为相同的值。即，存在本质上的机器差异。

当然，在不同的制造商之间，无法保证以相同的方式测定相同试样时的读取值相同。即，难以实现跨越制造商的测定标准化。即，没有像电气·机械系统中采用电压[V]或长度[m]等单位系统那样使用可溯源至国家标准的绝对的单位系统。

因此，在现有技术中，采用相对测定法，即，将作为比较对象的标准物质(控制物质)和试样同时进行测定，检测该标准物质和试样的测定值的比。

但是，在使用该标准物质的相对测定法中，存在下述课题。

1a)由于标准物质的流通而限制测定标准化。

1b)作业时间及作业成本升高，以及由于标准物质的不稳定性而导致测定品质降低。

另一方面，激励光等光量一样的光，可利用光电二极管等以可溯源至国家标准的方式测定，但只能得到非图像的0维的点数据。

与此相对，在日本特开2004-191232号公报中，公开了将照相机的亮度值校正为国家标准的光能量[W]的方法。由此，可以针对拍摄的图像的每个像素而得到可溯源至国家标准的光能量的光量值(以下，称为“图像能量测量仪”)。即，可以测定试样的空间分布。

但是，在这里公开的仅是受光侧的结构，对于激励光的具体的校正方法没有记载。另外，与测定系统相关的计算式没有公开。

本发明的目的在于，将为了荧光测定向试样照射的激励光，标准化为“可溯源至国家标准且每单位面积上为指定光量”的值，由此，作为“可溯源至国家标准的每单位面积的光量”，定量地测定由试样产生的荧光量，而不是现有技术那样的比(比例值)。

相同地，将吸光测定中向试样照射的照射光，标准化为“可溯源至国家标准且每单位面积上为指定光量”的值，由此，作为“可溯源至国家标准的每单位面积的光量”，定量地测定由试样吸收的吸收光量，而不是现有技术那样的比(比例值)。

对此，更具体地说，可以达到以下的作用效果。

(1)利用具有可溯源至国家标准的光量单位的绝对值，进行此前只能相对地进行比较的荧光量及吸光量的评价，从而可以实现对多次测定及对不同测定器机体间的读取值进行直接比较。由此，可以实现标准化。

(2)作为装置，只要一次确定试样的物质量与读取值之间的关系，就可以进行试样的测定，不需要“为了校正装置而在每次测定时都利用标准物质生成标定曲线(calibration curve)”。