[发明专利]一种电路问题设计布图定位调整的方法有效

专利信息
申请号: 201010230166.4 申请日: 2010-07-19
公开(公告)号: CN102339331A 公开(公告)日: 2012-02-01
发明(设计)人: 吴玉平;陈岚;叶甜春 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京市德权律师事务所 11302 代理人: 王建国
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 电路 问题 设计 定位 调整 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于集成电路设计领域,尤其涉及一种电路问题设计布图定位调整的方法。

背景技术

设计调试是模拟集成电路设计的重要环节。由于缺乏有效的设计自动化软件工具的支持,在现有技术下,设计调试主要由设计人员手工进行,设计人员需要手工分析电路仿真波形,根据波形问题确定可能的问题布图之所在,然后试着去修改可能的物理布图,经过反复试验确定布图问题的具体位置,再通过反复试验修改并确定问题布图的调整方案。传统手工方法的缺点是:一是速度慢,二是依赖设计人员的经验和知识,制约了模拟集成电路设计效率的提高。为了提高模拟集成电路的设计效率,需要有效的设计自动化工具的支持。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电路问题设计布图定位调整的方法,旨在解决现有模拟集成电路设计布图的定位调整依赖设计人员的经验和知识,设计效率低、速度慢的问题。

本发明是这样实现的,一种电路问题设计布图定位调整的方法,该方法包括以下步骤:

根据电路分析建立布图问题对电路性能的影响趋势表;

对模拟集成电路的前仿真波形和后仿真波形进行比较和分析,确定模拟集成电路的问题波形;

根据问题波形定位影响模拟集成电路性能的问题寄生RLC的问题序列;

根据问题寄生RLC序列确定问题寄生RLC的物理位置;

根据问题寄生RLC的物理位置确定问题寄生RLC连接的器件和对应的物理连接;

根据问题寄生RLC连接的器件和对应的物理连接确定问题设计布图;

根据布图问题对电路性能的影响趋势表,调整问题设计布图。

本发明通过建立布图问题对电路性能的影响趋势表,确定模拟集成电路的问题波形,定位影响所述模拟集成电路性能的问题寄生RLC问题序列、问题寄生RLC的物理位置以及问题寄生RLC连接的器件和对应的物理连接,确定问题设计布图并对问题设计布图进行调整。实现了自动定位模拟集成电路的问题设计布图并进行调整,解决了现行模拟集成电路设计布图问题定位调整效率低、速度慢的问题,同时提高了模拟集成电路设计布图定位调整的自动化水平。

附图说明

图1是本发明实施例提供的电路问题设计布图定位调整的方法的实现流程图;

图2是本发明实施例提供的确定模拟集成电路问题波形的方法的流程图;

图3是本发明实施例提供的确定问题寄生RLC连接的器件和对应的物理连接的方法流程图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。

本发明实施例通过建立布图问题对电路性能的影响趋势表,确定模拟集成电路的问题波形,定位影响模拟集成电路性能的问题寄生RLC序列、问题寄生RLC的物理位置以及问题寄生RLC连接的器件和对应的物理连接,确定问题设计布图并对问题设计布图进行调整。

本发明实施例是这样实现的,一种电路问题设计布图定位调整的方法,所述方法包括以下步骤:

根据电路分析建立布图问题对电路性能的影响趋势表;

对模拟集成电路的前仿真波形和后仿真波形进行比较和分析,确定所述模拟集成电路的问题波形;

根据所述问题波形定位影响所述模拟集成电路性能的问题寄生RLC问题序列;

根据所述问题寄生RLC问题序列确定问题寄生RLC的物理位置;

根据所述问题寄生RLC的物理位置确定问题寄生RLC连接的器件和对应的物理连接;

根据所述问题寄生RLC连接的器件和对应的物理连接确定问题设计布图;

根据布图问题对电路性能的影响趋势表,调整所述问题设计布图。

以下结合附图及实施例,对本发明作具体详述如下:

图1示出了本发明实施例提供的电路问题设计布图定位调整的方法的实现流程,详述如下:

在步骤S101中,根据电路分析建立布图问题对电路性能的影响趋势表;

在步骤S102中,对模拟集成电路的前仿真波形和后仿真波形进行比较和分析,确定模拟集成电路的问题波形;

在步骤S103中,根据问题波形定位影响模拟集成电路性能的问题寄生RLC问题序列;

在步骤S104中,根据问题寄生RLC问题序列确定问题寄生RLC的位置;

在步骤S105中,根据问题寄生RLC的位置确定问题寄生RLC连接的器件和对应的物理连接;

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