[发明专利]信号处理设备、信号处理方法和接收系统有效
申请号: | 201010227511.9 | 申请日: | 2010-07-12 |
公开(公告)号: | CN101958867A | 公开(公告)日: | 2011-01-26 |
发明(设计)人: | 弓场廷昭;冈本卓也;后藤友谦;小林健一 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | H04L27/26 | 分类号: | H04L27/26;H04B17/00 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 宋鹤;南霆 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信号 处理 设备 方法 接收 系统 | ||
1.一种信号处理设备,包括:
处理装置,用于执行载波移位量检测处理,该处理用于检测构成载波误差的载波移位量,所述载波误差用于解调被称为OFDM信号的正交频分复用信号;以及
校正装置,用于根据所述载波移位量来校正所述OFDM信号;其中
所述OFDM信号包括:
第一前序信号,包括子载波,以及
第二前序信号,包括子载波,所述第二前序信号中所包括的子载波的间隔比所述第一前序信号中所包括的子载波的间隔要窄;
所述第二前序信号包括导频信号,所述导频信号是以预定数目的子载波为间隔布置的已知信号;并且
所述处理装置使用一个这样的第二前序信号中包括的所述子载波的相关度来检测所述载波移位量。
2.如权利要求1所述的信号处理设备,其中所述处理装置包括:
相位检测装置,用于检测所述第二前序信号中包括的子载波的相位;
相位差检测装置,用于检测所述第二前序信号中包括的每个子载波和与所关注的子载波相隔所述预定数目的子载波的子载波之间的相位差;
映射装置,用于将所关注的子载波映射到以IQ星座图的原点为中心的圆的圆周上的、通过旋转所述相位差而到达的位置,所述映射装置还获得相位差向量,该相位差向量的起点是所述原点,终点是所述子载波被映射到的位置;
向量和计算装置,该装置被配置为:针对构成预定数目的子载波的载波移位量的、范围从从最小值到最大值的多个偏移量中的每一个,所述向量和计算装置确定从所述第二前序信号中的第一子载波起移位了每个所述偏移量而到达的移位后的位置,获取从所述移位后的位置开始并在以所述预定数目的子载波为间隔布置的每个子载波处终止的相位差向量,并将所获取的相位差向量加和,作为各个所述子载波的相关度;以及
最大值检测装置,用于检测关于所述多个偏移量中的每一个的所述相位差向量之和当中的最大和,所述最大值检测装置还检测与所述最大和相对应的偏移量,作为所述载波移位量。
3.如权利要求2所述的信号处理设备,其中
所述第二前序信号中包括的所述导频信号各自是通过如下方式获得的:利用被称为BPSK的二进制相移键控对被称为PRBS的伪随机二进制序列进行调制;并且
所述相位检测装置检测被乘以调制信号后的所述子载波的相位,所述调制信号是通过利用BPSK调制PRBS而获得的。
4.如权利要求3所述的信号处理设备,其中所述偏移量的最小值和最大值是使用如下的商获得的:所述第一前序信号中的子载波的间隔除以所述第二前序信号中的子载波的间隔的商。
5.如权利要求1所述的信号处理设备,其中所述处理装置包括:
相位检测装置,用于检测所述第二前序信号中包括的子载波的相位;
映射装置,用于将各个所述子载波映射到以IQ星座图的原点为中心的圆的圆周上的、通过旋转所关注的子载波的相位而到达的位置,所述映射装置还获得相位向量,该相位向量的起点是所述原点,终点是所关注的子载波被映射到的位置;
向量和计算装置,该装置被配置为:针对构成预定数目的子载波的载波移位量的、范围从最小值到最大值的多个偏移量中的每一个,所述向量和计算装置确定从所述第二前序信号中的第一子载波起移位了每个所述偏移量而到达的移位后的位置,获取从所述移位后的位置开始并在以所述预定数目的子载波为间隔布置的每个子载波处终止的相位向量,并将所获取的相位向量加和,作为各个所述子载波的相关度;以及
最大值检测装置,用于检测关于所述多个偏移量中的每一个的所述相位向量之和当中的最大和,所述最大值检测装置还检测与所述最大和相对应的偏移量,作为所述载波移位量。
6.如权利要求5所述的信号处理设备,其中
所述第二前序信号中包括的所述导频信号各自是通过如下方式获得的:利用被称为BPSK的二进制相移键控对被称为PRBS的伪随机二进制序列进行调制;并且
所述相位检测装置检测被乘以调制信号后的所述子载波的相位,所述调制信号是通过利用BPSK调制PRBS而获得的。
7.如权利要求6所述的信号处理设备,其中所述偏移量的最小值和最大值是使用如下的商获得的:所述第一前序信号中的子载波的间隔除以所述第二前序信号中的子载波的间隔的商。
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