[发明专利]充电器件以及图像形成设备有效
申请号: | 201010205929.X | 申请日: | 2010-06-17 |
公开(公告)号: | CN101930201A | 公开(公告)日: | 2010-12-29 |
发明(设计)人: | 滝下茂树 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | G03G15/02 | 分类号: | G03G15/02;G03G15/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 朱德强 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 充电 器件 以及 图像 形成 设备 | ||
技术领域
本发明涉及一种充电器件以及包括该充电器件的图像形成设备。
背景技术
在电子照相类型的图像形成设备中,作为用于对感光构件充电的充电装置,已经使用了电晕充电器(一次充电器)。具体地,电晕充电器以非接触的方式布置成与感光构件相对,并且感光构件的表面通过由电晕充电器的电晕放电所产生的电晕离子而被均匀地充电到预定的极性和预定的电势。这种电晕充电器包括放电导线,所述放电导线作为盒状遮蔽电极(壳体)中的充电电极,所述盒状遮蔽电极形成为使得基本矩形的表面暴露,并且这种电晕充电器通过在使遮蔽电极接地的同时施加电压到放电导线而导致电晕放电。
这种电晕放电器在其操作期间产生放电产物,例如臭氧(O3)或者氧化氮(NOx)。这些放电产物对放电能量、周围气体、周围湿气或类似物起作用,使得亲水化合物,例如氮化合物和具有醛基、羧基、羟基(OH)的化合物和类似物,沉积在感光构件表面上。沉积的化合物(以下称为放电产物)吸收周围湿气,并且结果,感光构件的表面电阻下降,使得在某些情况下出现导致静电潜像缺失的所谓“图像删除(图像流动)”或“图像模糊”现象。具体地,该现象在这样的情况下出现,即,在图像形成操作期间在电晕充电器中(在壳体中)逐渐沉积的放电产物以带状形状沉积在充电器下方的感光构件上并且吸收湿气。
这种“图像流动”和“图像模糊”由于放电产物吸收湿气而出现,所述放电产物是沉积在感光构件上的亲水化合物。因此想到通过将感光构件的表面温度增大到不低于环境温度的水平而阻止放电产物吸收湿气。具体地,考虑到采用这样的一种构造,即,其中在感光构件的内表面处布置有加热器(以下,加热器称为“鼓式加热器”)以加热感光构件,由此阻止放电产物吸收湿气。然而,在其中感光构件总是被鼓式加热器加热的这种构造中,被图像形成设备所消耗的电力不期望地增加。
作为另一种方法,考虑到一种去除沉积在感光构件表面上的放电产物的方法。具体地,考虑到这样的一种构造,即,其中沉积在感光构件上的放电产物通过与感光构件接触的清洁刀片或类似物而被去除。然而,在这种构造中,需要转动感光构件若干分钟,以便去除长期在感光构件的静置期间沉积的放电产物。因此,从图像形成设备的休眠状态到待被复印的第一个屏蔽片输出所需要的时间(第一复印件输出时间(FCOT))增加。
鉴于该问题,日本特开专利申请(JP-A)2007-72212公开了这样的一种结构,即,该结构用于通过在长时间的休止期间在充电器和感光构件之间插入遮蔽构件(挡板)而防止待从充电器沉积的物质掉落到感光构件上。具体地,在长时间的休止期间,遮蔽构件位于遮蔽位置处以防止放电产物沉积在感光构件上。结果,JP-A 2007-72212中说明的构造与使用鼓式加热器的构造相比,可以抑制被设备所消耗的电力,并且与其中感光构件长期被转动的构造相比,可以缩短FCOT。
然而,就JP-A 2007-72212中说明的结构而言,遮蔽构件沿着感光构件的切向方向运动,在感光构件的周边处设有充电器的收回位置。在感光构件的周边处,除了充电器以外,布置有诸如曝光装置、显影装置和清洁装置的多种装置,使得在确保如上所述的收回位置的情况下设备的尺寸增大。顺便提及,为了避免感光构件的周边布置有多种装置,即使当收回位置位于相对于感光构件的纵向方向与多种装置偏离的位置处时,组合的设备的尺寸也增大。
鉴于该问题,考虑到,遮蔽构件成形为片状形状,并且遮蔽构件被卷起来,以便从充电器和感光构件之间的间隙收回。通过采用这种构造,甚至当屏蔽片卷起装置布置在相对于感光构件的纵向方向(与多种装置)偏离的位置处时,也能够抑制设备的尺寸增大。然而,就这种构造而言,在卷起的过程中,屏蔽片在放电器侧上的表面接触屏蔽片在感光构件侧的表面。即,在卷起的过程中,屏蔽片被卷绕在例如卷筒上,但是在卷筒转动一整周之后,屏蔽片被卷绕成使得屏蔽片的充电器侧的表面重叠在屏蔽片的感光构件侧的表面上,使得屏蔽片的充电器侧的表面接触屏蔽片的感光构件侧的表面。
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