[发明专利]一种显示面板及其图像矫正方法无效
申请号: | 201010205124.5 | 申请日: | 2010-06-21 |
公开(公告)号: | CN101937627A | 公开(公告)日: | 2011-01-05 |
发明(设计)人: | 应骏 | 申请(专利权)人: | 应骏 |
主分类号: | G09F9/00 | 分类号: | G09F9/00;G02B27/00;G02B5/02;G02B3/08;G02B5/04;G09G5/00 |
代理公司: | 杭州浙科专利事务所 33213 | 代理人: | 吴秉中 |
地址: | 325000 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 显示 面板 及其 图像 矫正 方法 | ||
1.一种显示面板,包括导光层,其特征在于所述的导光层上表面配合设置由单透光材料构成的散射层(1),导光层下表面配合设置聚光层(4),所述的导光层包括四棱台或倒四棱台结构的中空或实心的透光板(2),透光板(2)下表面配合设置底透光板(3)。
2.如权利要求1所述的一种显示面板,其特征在于所述的散射层(1)上表面平铺设置由光学材料制得的微圆球颗粒(1a)。
3.如权利要求1所述的一种显示面板,其特征在于所述的散射层(1)上表面平铺设置由光学材料制得的微圆球颗粒(1a),微圆球颗粒(1a)之间填充设置透光率小于50%的光学材料。
4.如权利要求1所述的一种显示面板,其特征在于所述的散射层(1)的下表面或上表面由光学材料制得的微齿轮(1b)阵列组构成。
5.如权利要求1所述的一种显示面板,其特征在于所述的散射层(1)上表面由光学材料制得的上凸或下凹的微柱状体(1c)阵列构成。
6.如权利要求1所述的一种显示面板,其特征在于所述的聚光层(4)的下表面或上表面由一个菲涅耳透镜(4a)或由微型的菲涅耳透镜(4a)阵列组构成。
7.如权利要求1所述的一种显示面板,其特征在于所述的聚光层(4)中设置微中空透光柱(4b)阵列组。
8.如权利要求1所述的一种显示面板,其特征在于所述的聚光层(4)的上表面或下表面由光学材料制得的微棱镜(4c)阵列组构成,所述的微棱镜(4c)横截面为不规则、圆形或椭圆形的凸起结构,凸起结构中间为下凹或扁平结构。
9.如权利要求1所述的一种显示面板,其特征在于所述的透光板(2)上表面配合设置面透光板(5),透光板(2)的四个侧面上分别配合设置侧透光板(6),透光板(2)与四个侧透光板(6)构成长方体或正方体结构,所述的面透光板(5)、透光板(2)与侧透光板(6)为一体式结构或分体连接结构。
10.如权利要求1所述的一种显示面板,其特征在于所述的透光板(2)上表面对称配合设置倒四棱台结构的上透光板(2a),上透光板(2a)与透光板(2)之间配合设置侧透光板(6),上透光板(2a)、透光板(2)与侧透光板(6)构成长方体或正方体结构,上透光板(2a)上表面配合设置面透光板(5),所述的面透光板(5)、上透光板(2a)、透光板(2)与侧透光板(6)为一体式结构或分体连接结构。
11.如权利要求1所述的一种显示面板,其特征在于所述的聚光层(4)配合连接显示单元,显示单元上配合设置接入图像输入数据的图像矫正器,图像矫正器与显示单元中的驱动电路板连接。
12.一种显示面板的图像矫正方法,其特征在于包括以下步骤:
1)利用常规测试软件和光度测量设备进行参数测量:亮度修正参数Nh,色差修正参数Nc,显示像素点大小修正参数Nl,显示像素点距修正参数Ni;
2)将步骤1)得到的参数输入至图像矫正器,图像矫正器利用预先设置的计算公式进行矫正运算,达到相应的矫正系数,图像矫正器通过矫正系数对显示单元的输入源图像分别进行矫正,然后再由与图像矫正器连接的驱动电路板上的驱动IC显示矫正后的图像,各矫正系数的计算公式如下:
亮度矫正:
其中H为原始图像亮度矩阵,hnm为n行m列像素点的亮度值,hnm由常规仪器测量所得,h为矫正后的图像亮度矩阵,Δhn为亮度矫正矩阵,Δhn=Nh+δn,δn为第n行所在位置光系透过导光层后的光能量损失系数,δn由常规仪器测量所得;
色差矫正:
其中C为原始图像像素点色温系数矩阵,cnm为n行m列像素点的色温系数值,cnm由常规仪器测量所得,c为矫正后图像像素点色温系数矩阵,Δcn为色差矫正矩阵,Δcn=Nc+ε*θn,θn为n行像素点的色差基准系数,ε为导光层材料的透光度、色散系数、色彩纯度、表面光洁度加权值,θn、ε由常规仪器测量所得;
显示像素点大小矫正:
其中L为原始图像显示像素点大小,lnm为n行m列像素点的大小值,lnm由常规仪器测量所得,l为矫正后图像像素点大小矩阵,Δln为像素点大小矫正矩阵,Δln=Nl+τsinγn,τ为导光层材料的光学系数,γn为点n的偏移角度,τ和γn由常规仪器测量所得;
显示像素点距矫正:
其中I为原始图像显示像素点距矩阵,inm为n行m列像素点的与相邻点的距离,inm由常规仪器测量所得,i为矫正后图像像素点距矩阵,Δin为像素点距大小矫正矩阵,Δin=Ni+ρn*τsinγn,τ为导光层光学系数,γn为点n的偏移角度,ρn为n点所在的放大系数,τ、γn和ρn由常规仪器测量所得。
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