[发明专利]采用光子晶体的金属电子标签有效
申请号: | 201010186733.0 | 申请日: | 2010-05-28 |
公开(公告)号: | CN101853412A | 公开(公告)日: | 2010-10-06 |
发明(设计)人: | 汪勇;刘奕昌;武岳山 | 申请(专利权)人: | 深圳市远望谷信息技术股份有限公司 |
主分类号: | G06K19/067 | 分类号: | G06K19/067 |
代理公司: | 深圳市中知专利商标代理有限公司 44101 | 代理人: | 孙皓;林虹 |
地址: | 518057 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 采用 光子 晶体 金属 电子标签 | ||
技术领域
本发明涉及一种电子标签,特别是一种适用于860MHz~960MHz频率范围的金属电子标签。
背景技术
金属电子标签是射频识别RFID系统中的一类重要标签,但是由于受到使用标签的物体本身的金属表面的影响,在设计和制作金属标签的时候总是存在各种困难。根据镜像原理,UHF频段的天线直接粘接在金属表面时,天线效率会降至零,导致该频段的电子标签读取性能严重下降,而随着天线与金属标签之间的距离增大时,天线性能会有所改观,当天线距离金属表面为1/4波长时,天线增益会比该天线直接放置于无放射环境中增加3dB,性能有提升。所以,为保证金属电子标签的读取性能,通常增大标签厚度致6~7mm,或者使用陶瓷等大介电常数的材料来制作标签,但是前者会增大标签的厚度,增加了标签在使用过程中被碰撞的几率,严重限制了金属电子标签的使用范围;后者使用陶瓷材料作为标签基板,由于陶瓷基板本身具有硬、脆而易碎的特性,不具备使用在弯曲表面的可能性,而且高介电常数的陶瓷通常损耗比较大,高介电常数本身也决定了对于标签的加工需要有比较高的精度,陶瓷的这些特性也限制了此类金属电子标签的加工和使用。使用上述材料或方法制作的金属电子标签都具有窄带宽的特性,这也使其与读写设备的配合提出了较高的要求。
发明内容
本发明的目的是提供一种采用光子晶体的金属电子标签,要解决的技术问题是在不较大增加金属标签厚度的情况下,保证金属电子标签的读写性能与普通电子标签一致,提高标签的带宽,增强其适应性。
本发明采用以下技术方案:一种采用光子晶体的金属电子标签,具有电子标签,所述电子标签粘贴在光子晶体上,所述光子晶体由相对磁导率为30-100、相对介电常数为10-20的柔性高磁导率材料作为标签衬底,其上粘贴有金属薄膜,金属薄膜上蚀刻有整齐的膜片阵元的金属阵列,阵元之间的缝隙宽度一致,电子标签粘贴在金属薄膜2上。
本发明的标签衬底长50-200mm,宽50-200,厚0.1-3.75mm。
本发明的金属薄膜长50-200,宽50-200,厚10μm。
本发明的金属薄膜采用铜箔或者铝箔。
本发明的标签衬底上用双面胶粘贴金属薄膜2。
本发明的膜片阵元形状为正方形、圆形、三角形或五边形。
本发明的电子标签的外围尺寸大于金属薄膜上的金属阵元尺寸,为不小于5倍。
本发明的标签衬底1采用ECCOPAD UHF-GL材料。
本发明的标签衬底,相对磁导率为30,相对介电常数为12,长为120mm,宽为50mm,厚为1.25mmmm,金属铜箔或铝箔,长为120mm,宽为50mm,厚为1.25mm,光子晶体上金属薄膜正方形阵元的边长为9mm,阵元之间的缝隙宽度为1mm。
本发明与现有技术相比,以柔性高磁导率材料作为光子晶体的衬底,在衬底上粘接金属薄膜,金属薄膜上蚀刻整齐的以正方形金属膜片为阵元的金属阵列,阵列之间的缝隙尺寸一致,利用粘接电子标签的物体的金属面作为反射面,将粘接电子标签的物体的导电性表面转化为导磁性表面,同时形成高阻反射面,当天线直接粘接于理想导磁性表面的时候,天线增益会增加3dB,所述光子晶体结构在UHF频段具有比较宽的带宽,这样即可以保证电子标签在金属表面的正常使用,又不会使标签厚度增加。
附图说明
图1是本发明实施例的反射相位图。
图2是本发明实施例的结构示意图。
图3是图2的俯视图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型进行进一步详细说明。如图2和图3所示,本发明的采用光子晶体的金属电子标签,在光子晶体上粘贴电子标签3。
设a为光子晶体的阵元周期,w为光子晶体的阵元宽度,g=a-w为光子晶体的阵元间隙,t为光子晶体的衬底厚度。
光子晶体的高阻反射面谐振频率为:
其中ω0为光子晶体的谐振频率,C为光子晶体的电容,L为光子晶体的电感,
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