[发明专利]基于介质阻挡放电低温原子化器的非色谱汞形态分析方法无效
| 申请号： | 201010181304.4 | 申请日： | 2010-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN101865832A | 公开（公告）日： | 2010-10-20 |
| 发明（设计）人： | 朱振利;刘志付;郑洪涛 | 申请（专利权）人： | 中国地质大学(武汉) |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 崔友明 |
| 地址： | 430074 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 介质 阻挡 放电 低温 原子 色谱 形态 分析 方法 | ||
1.基于介质阻挡放电低温原子化器的非色谱汞形态分析方法，其特征在于：利用还原剂将样品中的无机汞还原为Hg0，而有机汞生成有机汞氢化物，在介质阻挡放电原子化器不放电时，进行无机汞的测定得到无机汞的浓度；在介质阻挡放电原子化器放电时，有机汞氢化物被原子化，进行总汞的测定，得到总汞的浓度；有机汞的浓度为总汞的浓度与无机汞的浓度之间的差值。
2.按权利要求1所述的基于介质阻挡放电低温原子化器的非色谱汞形态分析方法，其特征在于：所述的还原剂为浓度为0.01-0.05％(m/v)的NaBH4或KBH4。
3.按权利要求1或2所述的基于介质阻挡放电低温原子化器的非色谱汞形态分析方法，其特征在于：所述的有机汞为甲基汞、乙基汞和苯基汞中的任意一种或几种的混合。
4.按权利要求1或2所述的基于介质阻挡放电低温原子化器的非色谱汞形态分析方法，其特征在于：所述的介质阻挡放电原子化器为平行板式结构或同心圆式结构，具有两个平行电极及两层绝缘介质层，绝缘介质层位于两个平行电极之间，两层绝缘介质层之间的距离为1mm-5mm；两个平行电极与高压高频电源相连，其电压为220V-10000V，频率为50Hz-50MHz。
5.按权利要求1所述的基于介质阻挡放电低温原子化器的非色谱汞形态分析方法，其特征在于：所述的样品在载流带动下与还原剂混合，产生的有机汞氢化物与载气混合后经过分离，有机汞氢化物被载气带入到介质阻挡放电原子化器进行原子化。
6.按权利要求5所述的基于介质阻挡放电低温原子化器的非色谱汞形态分析方法，其特征在于：所述的载流为HCl，所述的载气为Ar，载气流速为40-100mL min-1。
7.按权利要求1或5所述的基于介质阻挡放电低温原子化器的非色谱汞形态分析方法，其特征在于：所述的绝缘介质层材料为普通玻璃、耐热玻璃、石英和陶瓷中的任意一种。
8.按权利要求1或5所述的基于介质阻挡放电低温原子化器的非色谱汞形态分析方法，其特征在于：所述的样品为水样、鱼样或其它生物组织。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国地质大学(武汉)，未经中国地质大学(武汉)许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010181304.4/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
