[发明专利]自动光学检查设备及其测光工具板和调光方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种，尤其涉及一种自动光学检查设备及其测光工具板和调光方法。

背景技术

自动光学检查(AOI)设备一般自带光学识别系统，机器会自动根据测量物反光情况自动调整光学参数，进行光学校正。常见的光学校正如平面图像检测，即对设定好的平面图像进行图像摄取，根据图形清晰度来调节CCD焦距，并根据平面的光的反射的强度即灰度值来改变入射光的强度即灯源发出的光的能量，使平面图像最清楚地显示出来，并记录好所调节的参数。

另一种光学检测技术可参阅2008年9月3日公开的中国发明专利申请第200710170086.2号所揭露的自动光学检查方法，能够减少检测对象物如挠性印制电路板的过度检测，所述方法包括步骤：在检查形成于上述印制电路板上的图案时，利用在首次沿倾斜方向照射光得到的第一反射图像，先区分图案成分和空间成分，来先执行图案形状检查，然后利用在其次沿垂直方向照射光得到的第二反射图像，参考由上述第一反射图像得到的图案成分的区域，以表面凹陷为中心进行检查。

但是，现有技术AOI自动光学校正是根据程序设计者的思维来进行校正的，校正方式很死板，而且不能根据现场的实际需要来进行调整，对于光的强度无法用肉眼直接识别，并且对于凹凸面的反光情况无法判断是否符合用户需求，人对设备的干预没有一个参照标准。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种自动光学检查设备及其测光工具板和调光方法，可以根据检测产品的实际需要来调整检测光情况，调节设备的检测效果，提高设备的生产效率和产能。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种自动光学检查设备，包括：检测平台；放置于所述检测平台上的测光工具板，所述测光工具板表面设有自表面圆弧隆起或凹下的参照物；位于所述检测平台上方的光源、扫描器，所述光源发出的光线投射至所述参照物，所述扫描器用于利用所述参照物对所述光线的反射对所述参照物进行扫描，并得到扫描图像；调节装置，用于分析所述扫描图像，根据所述扫描图像判断所述光源投射至参照物的光线的是否满足预设的强度、角度和/或反射光的均匀度，在不满足时调节所述光源光线的强度和/或角度直至满足要求。

其中，所述测光工具板上圆弧隆起的参照物是半圆凸球或十字叉，所述十字叉由两根圆柱体组成。

其中，所述测光工具板上圆弧凹下的参照物是圆形凹坑。

其中，所述参照物是表面抛光的金属物体。

其中，所述参照物包括多种，每种参照物的数量为多个，并且大小不一。

为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种自动光学检查设备用测光工具板，所述测光工具板表面设有自表面圆弧隆起或凹下的参照物。

其中，所述测光工具板上圆弧隆起的参照物是半圆凸球或十字叉，所述十字叉由两根圆柱体组成，所述测光工具板上圆弧凹下的参照物是圆形凹坑。

其中，所述参照物是表面抛光的金属物体。

其中，所述参照物包括多种，每种参照物的数量为多个，并且大小不一。

为解决上述技术问题，本发明采用的又一个技术方案是：提供一种自动光学检查设备的调光方法，包括：将测光工具板放置于检测平台上的，所述测光工具板表面设有自表面圆弧隆起或凹下的参照物；以一定强度和角度向所述参照物投射光线，利用所述参照物对所述光线的反射对所述参照物进行扫描，并得到扫描图像；分析所述扫描图像，根据所述扫描图像判断所述光源投射至参照物的光线的是否满足预设的强度、角度和/或反射光的均匀度，在不满足时调节所述光源光线的强度和/或角度直至满足要求。

本发明的有益效果是：区别于现有技术自动光学检查设备不能根据现场的实际需要来进行调整、也无法对凹凸面的反光情况来判断是否符合用户需求的情况，本发明设计独特的测光工具板，利用设备自身所具有的扫描功能对所述测光工具板的参照物进行扫描，以参照物作为反光点来判断所检测需要的光是否合理，在不合理时根据反光情况改变光强和/或入射角度，通过反复扫描对比，调节设备内部参数至所需反光效果即可，可以根据检测产品的实际需要来调整检测光情况，调节设备的检测效果，提高设备的生产效率和产能。

附图说明

图1是本发明自动光学检查设备实施例的结构示意图；

图2是本发明测光工具板中参照物的立体示意图；

图3是本发明测光工具板实施例的结构示意图；

图4是本发明自动光学检查设备的调光方法实施例的流程图。

具体实施方式

为详细说明本发明的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。