[发明专利]光拾取装置和光盘装置

说明书

技术领域

本发明是涉及光拾取装置和光盘装置的发明。

背景技术

作为本技术领域的背景技术，有例如日本特开2006-344344号公报(专利文献1)。在本公报中，课题为“高精度地从具有多个记录层的光盘取得希望的信号”，解决方法为“从光源单元51出射的P偏振的光束，在光盘15被反射，成为S偏振并向透镜61入射。在1/4波片62、63，从光轴的+X侧入射的光束均被赋予+1/4波长的光学相位差。从光轴的-X侧入射的光束均被赋予-1/4波长的光学相位差。由此，通过1/4波片63，信号光成为S偏振光，杂散光成为P偏振光，而仅有信号光透过偏振光学元件64。”。另外，例如在非专利文献1中，课题为“在记录/再现双层光盘时，若包含有从与目标层不同的层反射的光的他层杂散光入射进光电探测器，则TE信号会产生偏移。因此，在没有他层杂散光对策的现有结构中，双层光盘的TE信号的偏移比单层的情况大，稳定的控制受到妨碍。”，解决方法为“将跟踪用光电探测器配置在没有他层杂散光的区域。”。另外，该结构在日本特开2004-281026(专利文献2)中有记载。

专利文献1：日本特开2006-344344号公报(第26页、图3、图5)

专利文献2：日本特开2004-281026号公报(第71页、图22、图24、图25)

非专利文献1：电子信息通信学会信学技报CPM2005-149(2005-10)(第33页、图4、图5)

发明内容

一般地，光拾取装置为了在光盘内某规定的记录轨道上照射光斑，除通过聚焦误差的检测，使物镜在聚焦方向上位移而在聚焦方向上进行调整之外，还检测跟踪误差信号，使物镜向盘状记录介质的半径方向位移而进行跟踪调整。利用这些信号，进行物镜的位置控制。

在上述伺服信号中，对于跟踪信号，对存在2层记录层的双层光盘有较大的问题。在双层光盘中，在目标记录层反射的信号光和在其它的非目标记录层反射的杂散光在相同的受光面入射。当信号光和杂散光在受光面入射时，两光发生干涉，该变动成分作为跟踪误差信号检测出。

对于该问题，在专利文献1中采用下述结构：将光盘反射的光束用聚光透镜集中，使其通过2片1/4波片和偏振光学元件，将扩散的光用聚光透镜集中而向检测器照射。因此，存在检测光学系统变得复杂、拾取装置的尺寸变大的问题。

在非专利文献1(专利文献2)中，采用下述结构：在产生于聚焦用光检测器的周围的聚焦用光束的来自他层的杂散光的外侧，配置跟踪用光检测器，进一步使在全息元件的中央部衍射的光在来自他层的杂散光的外侧前进。由此即使对双层光盘也能够进行稳定的跟踪控制。但是，对应存在多个层的多层光盘有较大的问题。若采用像非专利文献1(专利文献2)那样的结构，则为了使信号光与来自多层的光分离，衍射光栅的衍射角必须较大。若衍射角变大，则伴随着光检测器的尺寸变大，产生拾取装置的尺寸的问题和成本的问题。另外，制造引起的衍射效率的降低或光斑的变形的产生成为问题。特别是，衍射效率的降低从多层光盘的S/N的观点来看成为很大的问题。

因此，本发明的目的是提供：对在上述方式中成为问题的具有2层和其以上的记录面的光盘，也能够检测出稳定的再现信号和伺服信号、并能够小型化的光拾取装置或光盘装置。

本发明的第一方面的光拾取装置，其特征在于，包括：射出激光的半导体激光器；将从上述半导体激光器射出的光束向光盘照射的物镜；将上述光束分支的衍射光栅；和光检测器，其具有接收由上述衍射光栅分支的光束的多个受光部，在上述物镜和光检测器间搭载有透过规定的偏振光成分的光束的偏振元件。

本发明的另一方面的光盘装置，其特征在于，搭载有：上述的光拾取装置；驱动上述光拾取装置内的上述半导体激光器的激光点亮电路；使用从上述光拾取装置内的上述光检测器检测出的信号，生成聚焦误差信号和跟踪误差信号的伺服信号生成电路；和对记录在光盘的信息信号进行再现的信息信号再现电路。

根据本发明能够提供：当记录再现具有多个信息记录面的信息记录介质时，能够得到稳定的再现信号和伺服信号、并能够小型化的光拾取装置和搭载其的光盘装置。

附图说明

图1是说明实施例1的光学系统的图。

图2是表示实施例1的衍射光栅的图。

图3是表示实施例1的受光面的图。

图4是表示实施例1的偏振滤光器的图。

图5是表示记录/再现实施例1的3层光盘时的杂散光的形状(检测器上)的图。

图6是表示实施例1的其它的衍射光栅的图。

图7是表示实施例1的其它的受光面的图。