[发明专利]盘检查装置有效

专利信息
申请号: 201010156929.5 申请日: 2010-03-30
公开(公告)号: CN101937696A 公开(公告)日: 2011-01-05
发明(设计)人: 久保充正;亲松刚 申请(专利权)人: 蒂雅克股份有限公司
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 谢丽娜;关兆辉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 检查 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及盘(disc)检查装置,尤其涉及盘劣化的识别。

背景技术

在租赁CD、DVD或盘的生产工序中,通常对因盘的使用而造成损伤或污损的盘进行研磨而使之复原。例如,在租赁店中,对于由于用户使用而带来损伤或带来由于损伤等理由而无法进行重放这样的投诉的盘,采用专用的研磨机对盘表面进行研磨,消除损伤而进行再利用。为了消除损伤而必须采用5μm~10μm左右的研磨,因此,在例如DVD的情况下,进行1~5次左右的研磨,盘的厚度就达到了规格的下限。

另一方面,在搭载于CD驱动器、DVD驱动器上的拾取器中,设计/修正物镜以在通过折射率高的盘基板时、基板厚度为规定厚度时正确对焦,由于盘基板的厚度变薄,从而产生球面像差而无法正确地对焦,因此,每当反复研磨时抖动性就会劣化。

在下述专利文献1中公开了如下技术:进行重放的数据是否能够进行纠错的判断或者计算进行了改正的符号个数,通过将对不能纠错系列数或进行了N个符号以上的改正的系列数进行了计数的结果与阈值进行比较,判断光盘的信息记录面的状态,相应于状态而发出警告。

在下述专利文献2中公开了如下技术:一边监视从光盘读出的数据,一边将数据不连续的磁道的检测位置作为存在损伤的位置加以识别,并且,在光盘上的损伤部分一边对拾取器进行调焦一边推定损伤的深度,从而在存在损伤的磁道范围相应于损伤的深度对光盘进行研磨。

在下述专利文献3中公开了判断光盘表面的损伤的深度和大小并进行相应于判断结果的最佳研磨的技术。

专利文献1:JP特开平10-134527号公报

专利文献2:JP实用新型注册第3093865号

专利文献3:JP特开2004-330375号公报

在盘上存在损伤的情况下,虽然研磨盘表面就可能去除损伤,但是却存在随着盘表面的研磨的进行而产生球面像差、抖动性变差的问题。因此,在存在有碍于重放的盘的情况下,希望切实且短时间就识别该盘的劣化原因是损伤、是通过研磨就能够复原的盘,还是进行了过度的研磨而导致抖动性劣化、从而即使在此以上再对盘进行研磨也不能复原的盘。否则,就会产生对本来就是过度研磨、即使在此以上再进行研磨也没有意义的盘进行进一步的研磨的问题,或者产生尽管损伤本来就是劣化的原因而通过研磨就能够复原、但却就这样废弃等浪费处理的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种盘检查装置,能够识别盘的劣化原因是否是损伤,换而言之能够识别是否能够通过研磨来复原,从而能够进行相应于劣化原因的适当的处理。

本发明是如下的盘检查装置,具有:用于检测从盘重放的数据的规定区间中的纠错数PIE和无法纠错数PIF的机构;通过将上述纠错数PIE和上述无法纠错数PIF分别与规定的阈值进行大小比较而将上述盘识别为正常的盘、有损伤的盘、抖动性劣化的盘中的任一种的识别机构;以及输出识别结果的机构。

另外,本发明是如下的盘检查装置,具有:用于检测从盘重放的数据的规定区间中的纠错数PIE和无法纠错数PIF的机构;通过将上述纠错数PIE和上述无法纠错数PIF分别与第一阈值、第二阈值进行大小比较而将上述盘识别为正常的盘、可研磨盘、无法研磨盘中的任一种的识别机构;以及输出识别结果的机构。

在本发明中,优选的是,上述识别机构将上述规定区间中的上述纠错数PIE的最小值或平均值和上述第一阈值进行比较,并将上述无法纠错数PIF的最大值和上述第二阈值进行大小比较。

另外,在本发明中,优选的是,上述识别机构在上述纠错数PIE的最小值或平均值超过上述第一阈值时,将上述盘识别为抖动性劣化盘或无法研磨盘;在上述无法纠错数PIF的最大值为第二阈值以下且上述纠错数PIE的最小值或平均值为上述第一阈值以下时,将上述盘识别为正常的盘;在上述纠错数PIE的最小值或平均值为上述第一阈值以下且上述无法纠错数PIF的最大值超过上述第二阈值时,将上述盘识别为有损伤的盘或可研磨盘。

根据本发明,能够识别盘的劣化原因是否是损伤,换而言之能够识别是否能够通过研磨来复原,从而能够进行相应于劣化原因的适当的处理。

附图说明

图1是实施方式的结构框图。

图2是实施方式的另一结构图。

图3是实施方式的处理流程图。

图4是PIF的测定说明图。

图5是PIE的测定说明图。

图6是实施方式的另一处理流程图。

图7是实施方式的又一处理流程图。

图8是均匀研磨内外周时的PIF变化说明图。

图9是外周研磨的比内周深时的PIF变化说明图。

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