[发明专利]电子产品失效分析方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种电子商情资料库系统中多类别资料处理的方法。

背景技术

在产品的生产过程和使用过程中，产品丧失了规定的功能称为失效。判断失效产品的失效模式，查找失效原因和机理，提出预防再失效的对策的技术活动和管理活动称为失效分析。

目前，对电子产品进行失效分析的方法不完善，没有统一的失效分析方法，例如：工程师对失效电子产品进行失效分析时，只进行CND(can not duplicate，不能复制)问题判断或者NTF(no troublefound，未出现故障)的判断。实际上，CND和NTF是两个不同的问题，这种单一的测试方式使失效分析出现漏洞，降低了电子产品的质量。

发明内容

鉴于以上内容，本发明提供一种电子产品失效分析方法，能同时进行CND问题判断和NTF问题判断，以防止失效分析出现漏洞。

一种电子产品失效分析方法，该方法包括如下步骤：从存储装置中获取失效电子产品的失效信息；根据所获取的失效信息进行失效复制验证，以验证所获取的失效信息对应的失效现象能否复制；当所获取的失效信息对应的失效现象不能复制时，对失效电子产品进行测试以判断所述失效电子产品的失效原因是否属于不能复制问题；当所述失效电子产品不属于不能复制问题时，判断所述失效电子产品是否未出故障；当所述失效电子产品不属于未出故障问题时，判断所述失效电子产品的失效原因是否为客户造成的问题；当所述失效电子产品不属于客户造成的问题时，判断所述失效电子产品的失效原因是否为测试程序问题；当所述失效电子产品不属于测试程序问题时，判断所述失效电子产品的失效原因是否为制造问题；当所述失效电子产品不属于制造问题时，判断所述失效电子产品上的零件是否出现质量问题；当所述失效电子产品上的零件没有质量问题时，对电子产品的电路设计进行分析以得到电路设计的问题，并发出工程变更通知。

相较于现有技术，所述电子产品失效分析方法，规范了电子产品的失效分析步骤，使得电子产品的失效分析有了统一的标准，提高了失效分析的工作效率，对电子产品的质量有了更大的保证。

附图说明

图1是本发明电子产品失效分析方法较佳实施例的信息流向示意图。

图2是本发明电子产品失效分析方法较佳实施例的实施流程图。

具体实施方式

如图1所示，是本发明电子产品失效分析方法较佳实施例的信息流向示意图。在本较佳实施例中，该电子产品失效分析方法所应用的架构包括存储装置2、失效分析系统1及显示装置3。所述存储装置2中存储有失效电子产品的失效信息，例如：电子产品不能开机。所述失效分析系统1从存储装置2中获取失效电子产品的失效信息，根据所获取的失效信息对失效电子产品进行失效分析，根据失效分析的数据生成分析报告，并将分析报告显示在显示装置3中，以供用户查看。所述失效分析系统1包括数据获取单元10、失效分析单元12及报告生成单元14。

所述数据获取单元10用于从存储装置2中获取失效电子产品的失效信息。

所述失效分析单元12用于根据所获取的失效信息进行失效复制验证，以验证所获取的失效信息对应的失效现象能否复制。例如：若所获取的失效信息对应的失效现象为所述失效电子产品不能开机，当对所述失效电子产品进行开机动作时，若所述失效电子产品可以开机，则失效分析单元12判断所获取的失效信息对应的失效现象不能复制；当对所述失效电子产品进行开机动作时，若所述失效电子产品不能开机，则失效分析单元12判断所获取的失效信息对应的失效现象可以复制。当所获取的失效信息对应的失效现象可以复制时，工作人员通知相关的部门根据所获取的失效信息对失效电子产品进行相应的处理。