[发明专利]电子产品失效分析方法

权利要求书

1.一种电子产品失效分析方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：

从存储装置中获取失效电子产品的失效信息；

根据所获取的失效信息进行失效复制验证，以验证所获取的失效信息对应的失效现象能否复制；

当所获取的失效信息对应的失效现象不能复制时，对失效电子产品进行测试以判断所述失效电子产品的失效原因是否属于不能复制问题；

当所述失效电子产品不属于不能复制问题时，判断所述失效电子产品是否未出故障；

当所述失效电子产品不属于未出故障问题时，判断所述失效电子产品的失效原因是否为客户造成的问题；

当所述失效电子产品不属于客户造成的问题时，判断所述失效电子产品的失效原因是否为测试程序问题；

当所述失效电子产品不属于测试程序问题时，判断所述失效电子产品的失效原因是否为制造问题；

当所述失效电子产品不属于制造问题时，判断所述失效电子产品上的零件是否出现质量问题；

当所述失效电子产品上的零件没有质量问题时，对电子产品的电路设计进行分析以得到电路设计的问题，并发出工程变更通知。

2.如权利要求1所述的电子产品失效分析方法，其特征在于，该方法还包括步骤：

当所获取的失效信息能复制时，根据所述分析的数据生成失效分析报告；

当所述失效电子产品属于不能复制问题时，根据所述不能复制问题的数据生成失效分析报告；

当所述失效电子产品未出故障时，根据所述未出故障的数据生成失效分析报告；

当所述失效电子产品属于客户造成的问题时，根据所述客户造成的问题的数据生成失效分析报告；

当所述失效电子产品属于测试程序问题时，根据所述测试程序问题的数据生成失效分析报告；

当所述失效电子产品属于制造问题时，根据所述制造问题的数据生成失效分析报告；

当所述失效电子产品属于电路设计问题时，根据所述电路设计问题的数据生成失效分析报告。

3.如权利要求1所述的电子产品失效分析方法，其特征在于，所述判断失效电子产品的失效问题属于不能复制问题的方法为：当对所述失效电路进行测试得到的失效信息与所获取的失效信息不一致时，判断所述失效电子产品的失效问题属于不能复制问题。

4.如权利要求1所述的电子产品失效分析方法，其特征在于，所述判断失效电子产品未出故障的方法为：从和所述失效电子产品相同批次的电子产品中抽查20％进行相应的测试时，在所抽查的电子产品中没有发现任何不良问题时，判断所述失效电子产品未出故障。