[发明专利]电容测试方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及测试方法及系统，具体而言，涉及一种电容测试方法及系统。 

背景技术

目前，在DUT(被测)单板中，电容起到隔直流、去藕、滤波、整流等的作用，在整个系统的稳定运行起到关键的作用，因此在DUT单板中测试电容，就很重要，该测试可以获知该电容是否损坏、是否符合使用要求，以防不符合使用要求降低系统的安全性、可靠性和一致性，甚至损坏被测单板。 

图1是现有技术的RC并联电路示意图，如图1所示，该RC并联电路(电阻电容并联电路)位于一个成型的DUT单板中，为电阻R与电容C的并联电路。同时，电容C在DUT单板中的应用部分是以上述RC并联电路的形式体现的，部分是以单独电容的形式体现的。因此，在DUT单板中测试电容，尤其是在DUT单板的RC并联电路中测试电容是很重要的。 

相关技术中针对该电容的测试，可以通过激励交流电压，测试通过该电容的电流，进而测试出该电容的电容值，但该方法不能测试150uF以上的大电容。 

相关技术中针对150uF以上的大电容，包括单个大电容或者多个小电容并联得到的大电容，可以通过激励电流值恒定的直流电流，通过等间隔采样得到不同时刻的电容两端的暂态电压值。并且，针对单独电容的测试，由于上述电流值与暂态电压值构成线性关系，因此可以通过测试出这些等间隔采样点的电容充电斜率，进而测试出该电容的电容值。然而，针对RC并联电路中电容的测试，由于上述电流值与暂态电压值并不构成线性关系，如果通过上述同样的方法进行模拟测试，并不能准确测试得到RC并联电路中的电容值。 

发明内容

针对在DUT单板测试电容时，不能准确测试RC并联电路中的电容的问题而提出本发明。为此，本发明的主要目的在于提供一种电容测试方法及系统，以解决上述问题。 

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种电容测试方法，包括以下步骤：激励电流值I恒定的直流电流通过RC并联电路；在j个时刻t_n分别采集RC并联电路的暂态电压值u_cn，n＝1，2，...，j，j＞1；采集；以及使用I、u_cn、t_n以及RC并联电路的稳态电压值u₀计算导到RC并联电路中的电容C。 

优选地，通过以下之一得到所述稳态电压值u₀：采集所述RC并联电路的所述稳态电压值u₀；u₀＝R×I，其中，R为所述RC并联电路的电阻值。 

优选地，采用下式计算电容C：