[发明专利]无源静态共轴干涉成像光谱全偏振探测装置有效

专利信息
申请号: 201010127350.6 申请日: 2010-03-18
公开(公告)号: CN101793558A 公开(公告)日: 2010-08-04
发明(设计)人: 朱京平;李杰;黄华 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01J3/45 分类号: G01J3/45;G01N21/21;G02B27/28;G02B5/00
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所 61215 代理人: 刘国智
地址: 710049*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 无源 静态 干涉 成像 光谱 偏振 探测 装置
【权利要求书】:

1.无源静态共轴干涉成像光谱全偏振探测装置,其特征在于:共轴设置 有:最前端的前置光学远望系统(1),紧接着为静态全光调制模块(2),接 下来为基于萨瓦板的静态干涉成像光谱仪(3),基于萨瓦板的静态干涉成像 光谱仪(3)后配置一成像镜组(4),成像镜组(4)之后为探测器(5),探 测器(5)后连接有信号获取与处理系统(6),所述的静态全光调制模块(2) 包括双折射晶体(21)、偏振片或偏振棱镜(22),所述的基于萨瓦板的静态 干涉成像光谱仪(3)包括前端与静态全光调制模块(2)共用的偏振片或偏 振棱镜(22),中间为萨瓦板(32),末端为检偏器(33);

所述的前置光学望远系统(1)包括沿光轴顺序设置的前置光学系统物镜 组(11)、光阑(12)和前置光学系统像方镜组(13),所述的光阑(12) 在空间调制情况下为一狭缝(122),在时空混合调制情况下为一孔径光阑 (121),前置光学系统物镜组(11)是反射镜组、折反镜组或折射镜组;

所述的萨瓦板(32)由晶轴互相垂直的两块双折射晶体平板构成;

所述的成像镜组(4)选用以下任一方案制成:

空间调制情况下,为一个柱面透镜(41)和位于其焦面上的一成像透镜 组(42)组成,其中成像透镜组(42)的焦面位于后续探测器(5)上;

时空混合调制情况下,为一成像透镜组(42);

所述的探测器(5)为CCD阵列、CMOS阵列、光电二极管阵列、光电倍增 管阵列或红外焦平面阵列;

所述的信号获取与处理系统(6)包括将探测器(5)接收到的信息进行 傅立叶变换处理的微机,用于解调出目标的二维空间强度、一维光谱和四个 Stokes矢量,并显示为伪彩色图片。

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