[发明专利]晶体硅太阳电池背点接触结构的制备方法无效

专利信息
申请号: 201010123646.0 申请日: 2010-03-12
公开(公告)号: CN101800267A 公开(公告)日: 2010-08-11
发明(设计)人: 王懿喆;周呈悦;马小凤;梅伟芳 申请(专利权)人: 上海太阳能电池研究与发展中心
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 郭英
地址: 201201 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 晶体 太阳电池 点接触 结构 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种晶体硅太阳能电池背点接触结构的制备方法,其特征在于具体制备 步骤如下:

A.根据所设计的晶体硅太阳能电池结构,确定电池背点接触结构的样式, 即点列阵的密度和导电的接触点的大小;

B.根据该样式制作丝网印刷用的网板;

C.对已制备好绒面结构和P-N结的清洗后的样品背表面印刷光刻胶点列阵 图形,接着对光刻胶点列阵图形进行加热固化,固化温度在100-200℃之间;

D.将步骤C所得到的有光刻胶点列阵的样品表面,用真空热蒸发或等离子 体气相化学沉积的方法制备SiO2钝化膜,其厚度为155nm;

E.将步骤D所得到的有光刻胶点列阵和钝化膜的样品表面用去胶液洗去光 刻胶点列阵,使在点列阵处暴露晶体硅衬底;

F.将步骤E所得到的样品经漂洗、甩干后,用常规工艺方法完成后续上表 面减反射膜和上、背表面铝电极丝网印刷及烧结工艺,最终得到完整的电池结 构。

2.根据权利要求1的一种晶体硅太阳能电池背点接触结构的制备方法,其 特征在于:所说的钝化膜为与其上覆盖的铝背电极形成高反射结构的SiO2钝化 膜。

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