[发明专利]一种触摸屏校准参数的获取方法及装置有效
申请号: | 201010111362.X | 申请日: | 2010-02-02 |
公开(公告)号: | CN101727243A | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
发明(设计)人: | 卢凯;谢军 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 触摸屏 校准 参数 获取 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及电子信息技术领域,尤其涉及一种触摸屏校准参数的获取方法 及装置。
背景技术
现有技术中大部分终端交互设备都配有触摸屏,以向用户提供方便快捷的 输入方式。按照触摸屏的工作原理和传输信息的介质,可把触摸屏分成四种, 它们是电阻式触摸屏、红外线触摸屏和电容感应式触摸屏以及表面声波式触摸 屏。
现在应用最多的还是电阻式触摸屏,其表面由两层涂满导电介质的透明材 料组成(OTI,氧化铟),当触摸屏受到压力时所述两层透明材料导通,触摸屏 控制芯片通过扫描触摸屏的XY轴来获取受压点的电位,再进行A/D转换后得 到通常所述的物理坐标,然后根据触摸点X/Y轴的电位与对应位置的LCD点 坐标的XY轴的比例关系,将触摸屏上经过A/D转换后的电位值转化为LCD 上的坐标点(即通常所说的逻辑坐标)。一般情况下,即便是同一款触摸屏, 各触摸点之间的阻值也会不同的,而且随着使用时间的增加,触摸屏本身的阻 值也会发生变化,为了不影响触摸屏使用的精确度和灵敏度,校准参数也必须 做相应修改。
目前采用的校准方法是,先在LCD上显示几个点,然后用户在触摸屏上 点击这几个点,程序根据LCD上显示的点和用户点击的点来计算新的校准参 数。专利CN200810149571.6“一种触摸屏校准参数的确定方法及其装置”, 在程序中加入判断的机制,给定用户点击的点一个范围,如果这个坐标点和显 示在LCD上的点在这个范围内的话,就认为该点是有效的。该方法过程是对 传统的方法的改进,但实质还是多次对不同的单个点进行操作,来完成校准。
发明内容
本发明实施例提供一种触摸屏校准参数的获取方法及装置,用于提供一种 基于用户输入的触摸屏校准方法,提高校准参数的精确度。
本发明实施例提供一种触摸屏校准参数获取方法,包括:
在液晶显示屏LCD上显示预先设定的至少两个校准参考点;
获取触摸屏上校准参考点的对应位置被点击所得到的采样点的物理坐标, 并根据该物理坐标和校准参数显示所述采样点;
若确定显示的采样点与对应的校准参考点不重合,则调整所述采样点与对 应的校准参考点之间的距离,确定被调整后的各采样点与对应的校准参考点的 最小偏差,应用所述最小偏差更新所述校准参数。
当所述校准参考点为多个时,确定被调整后的各采样点与对应的校准参考 点的最小偏差包括:
获取每个校准参考点与对应的采样点的距离,并确定各校准参考点与对应 的采样点的距离之和的最小值,将该最小值作为采样点与校准参考点的最小偏 差。
当所述校准参考点为两个时,确定被调整后的各采样点与对应的校准参考 点的最小偏差包括:
确定两个校准参考点与两个采样点在同一直线上;
获取第一校准参考点与对应的第一采样点的第一距离和第二校准参考点 与对应的第二采样点的第二距离,将第一距离与第二距离的最小和作为最小偏 差。
根据上述方法本法发明实施例还提供一种触摸屏校准参数获取装置,包 括:
采样点显示模块,用于在液晶显示屏LCD上显示预先设定的至少两个校 准参考点,获取触摸屏上校准参考点的对应位置被点击所得到的采样点的物理 坐标,并根据该物理坐标和校准参数显示所述采样点;
校准参数确定模块,用于若确定显示的采样点与对应的校准参考点不重 合,则调整所述采样点与对应的校准参考点之间的距离,确定被调整后的各采 样点与对应的校准参考点的最小偏差,应用所述最小偏差更新所述校准参数。
当所述校准参考点为两个时,所述校准参数确定模块确定被调整后的各采 样点与对应的校准参考点的最小偏差具体为:
确定校准参考点与采样点在同一直线上;
获取第一校准参考点与对应的第一采样点的第一距离和第二校准参考点 与对应的第二采样点的第二距离,将第一距离与第二距离和的最小值作为最小 偏差。
当所述校准参考点为多个时,所述校准参数确定模块确定被调整后的各采 样点与对应的校准参考点的最小偏差具体为:
获取每个校准参考点与对应的采样点的距离,并确定各校准参考点与对应 的采样点的距离之和的最小值,将该最小值作为采样点与校准参考点的最小偏 差。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中兴通讯股份有限公司,未经中兴通讯股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010111362.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:石斛色谱指纹图谱测定方法
- 下一篇:表面可安装的集成电路封装方法