[发明专利]平铺式辐射检测器的组装方法

权利要求书

1.一种平铺式辐射检测器装置(1000)，所述装置包括：

检测器铺瓦(304，304’)的(N×M)阵列；

闪烁器层(910)；

共用基底层(604)；

其中，所述检测器铺瓦(304，304’)的阵列被设置在所述闪烁器层和所述基底层之间；

每个检测器铺瓦(304，304’)具有朝向所述闪烁器层的前侧和朝向所述基底层的背侧；

相邻检测器铺瓦(304，304’)的相邻前侧边缘(505，505’)之间的相对高度差小于2μm，优选地小于1μm。

2.如权利要求1所述的装置(1000)，其特征在于，所述检测器铺瓦的每个背侧包括研磨标记。

3.如权利要求1或2所述的装置(1000)，其特征在于，所述检测器铺瓦包括至少一个对准装置，优选地是对准销和/或沿铺瓦边缘附着的间隔件。

4.如前述任一权利要求所述的装置(1000)，其特征在于，所述相邻检测器铺瓦(304，304’)的相邻前侧边缘(505，505’)之间的相对高度差小于或者等于所述相邻检测器铺瓦的相邻背侧边缘(407，407’)之间的相对高度差(409)。

5.如前述任一权利要求所述的装置(1000)，其特征在于，所述闪烁器层(910)和/或共用基底层(604)被粘合在所述检测器铺瓦(304，304’)的阵列上。

6.如前述任一权利要求所述的装置(1000)，其特征在于，还包括位于所述闪烁器层(910)与所述检测器铺瓦(304，304’)之间的光学透明粘合层(908)和/或包括位于所述基底层(604)与所述检测器铺瓦(304，304’)之间的粘合层(602)。

7.如前述任一权利要求所述的装置(1000)，其特征在于，所述检测器铺瓦被对准，使得位于相邻检测器铺瓦(304，304’)之间的非活性区域的宽度小于四个像素排，优选地为零或者一个像素排。

8.一种X射线系统，包括：

X射线源和X射线检测器，它们可旋转地安装在支承装置上，其中所述X射线检测器(1000)包括：

检测器铺瓦(304，304’)的(N×M)阵列；

闪烁器层(910)；

共用基底层(604)；

其中，所述检测器铺瓦的阵列被设置在所述闪烁器层和所述基底层之间；

每个检测器铺瓦(304，304’)具有朝向所述闪烁器层的前侧和朝向所述基底层的背侧；

相邻检测器铺瓦(304，304’)的相邻前侧边缘(505，505’)之间的相对高度差小于2μm，优选地小于1μm。

9.一种制造诸如X射线、伽马射线和光子的高能辐射或微粒的平铺式检测器的方法，包括以下步骤：

将检测器铺瓦(304，304’)一个接一个地并且使它们的活性面侧向下地对准到闪烁器面板上，以形成检测器铺瓦的阵列。

10.一种制造诸如X射线、伽马射线和光子的高能辐射或微粒的平铺式检测器的方法，包括以下步骤：

将检测器铺瓦(304，304’)一个接一个地并且使它们的活性面侧向下地对准到对准定位器上，以形成检测器铺瓦的阵列；

暂时地将机械定位器附着到形成所述阵列的已对准的检测器铺瓦的背侧，其中，所述机械定位器适于对于每个检测器铺瓦单独地沿垂直方向移动；

从所述对准定位器上移去所述检测器铺瓦的阵列。

11.一种用于制造诸如X射线、伽马射线和光子的高能辐射或微粒的平铺式检测器的方法，包括以下步骤：

将检测器铺瓦(304、304’)前侧向下地安装到平直真空吸盘(406)上；

通过研磨以平整所述检测器铺瓦的厚度(408)，从而从每个检测器铺瓦(304、304’)的背侧除去材料(420、420’)。

12.一种制造诸如X射线、伽马射线和光子的高能辐射或微粒的平铺式检测器装置(1000)的方法，包括以下步骤：

临时地将检测器铺瓦(304、304’)的(N×M)阵列前侧向下地设置到平直设置板(508)上，使得相邻检测器铺瓦之间的非活性区域在水平方向上的宽度小于四个像素排，优选地为零或者一个像素排。