[发明专利]分光测定方法

说明书

技术领域

本发明涉及具备积分球的分光测定装置、以及使用分光测定装置执行的分光测定方法、分光测定程序。 

背景技术

为了测定从试料发出的光的强度而使用积分球。积分球的内壁由具有高反射率并且在扩散性方面表现卓越的涂层或者材料制造，入射到内壁面的光被多重扩散反射。而且，该被扩散的来自试料的光通过被设置于积分球的规定位置的出射开口部而被入射到光检测器并被检测，由此，不依赖于试料中的发光模式、发光的角度特性等，能够高精度地取得试料中的发光的强度等的信息(例如参照专利文献1～3)。 

作为使用积分球的成为测定的对象的试料的一个例子，存在有机EL(电致发光，electroluminescence)元件。有机EL元件一般是具有在由玻璃或者透明的树脂材料构成的基板上层叠有阳极、包含发光层的有机层以及阴极的构造的发光元件。通过从阳极注入的空穴和从阴极注入的电子在发光层中进行再结合而产生光子，从而发光层发光。 

在有机EL元件的发光特性的测定以及评价中，外部量子效率等是重要的，该外部量子效率由被放出至元件外部的光子数相对于所注入的电子数的比例定义。另外，在有机EL元件中所使用的发光材料的测定以及评价中，发光量子收率(内部量子效率)是重要的，该发光量子收率由来自试料的发光的光子数相对于试料所吸收的激励光的光子数的比例定义。使用积分球的光测定装置也能够适宜地运用于这样的有机EL元件中的量子效率的评价中。 

专利文献1：日本专利第3287775号公报 

专利文献2：日本专利申请公开2007-33334号公报 

专利文献3：日本专利申请公开2007-86031号公报 

专利文献4：日本专利申请公开平11-30552号公报 

专利文献5：日本专利申请公开平5-60613号公报 

发明内容

发明所要解决的技术课题 

近年来，在下一代显示器和下一代照明的研究开发中，从所谓电力低消耗化的观点出发，为了提高有机EL元件等的发光元件的发光效率，用于发光元件的发光材料的发光量子收率的评价的重要性增加。作为这样的发光量子收率的评价方法，是使用具备上述的积分球的光测定装置，并由光致发光(photoluminescence：PL)法测定发光材料的绝对发光量子收率的方法。 

具体来说，在由PL法得到的发光量子收率的评价中，对被配置于积分球内的发光材料的试料照射规定波长的激励光，并测定由来自试料的发光的光子数相对于试料所吸收的激励光的光子数的比例定义的发光量子收率。在此情况下，来自试料的发光是例如由激励光的照射而被激励的从试料发出的荧光，通常成为比激励光长波长的光。另外，在从积分球出射的被测定光的检测中，通过使用利用分光器测定被测定光的波长光谱的构成，从而能够分离激励光和来自试料的发光并进行测定(参照专利文献1)。 

在此，在上述的试料的量子收率测定中，例如因氧的影响等而无法长时间的照射激励光的试料等、各种种类的试料成为测定对象。因此，在使用分光器的量子收率测定中，使用可以对应该测定的全波长区域同时地进行测定的多通道型的分光器的构成比在照射激励光的状态下由马达驱动等改变分光器的构成从而扫描测定波长的构成更加适合。 

然而，在使用这样的多通道分光器的分光测定装置中，由于分光器的构造等而使杂散光的产生比较多，从而杂散光对测定结果的影响成为问题(参照专利文献4、5)。例如，在将激励光照射于积分球内的试料而进行的发光量子收率的测定中，如果激励光入射于分光器，那么由于其内侧的激励光的漫反射等而产生杂散光。由这样的激励光引起的杂散光由于被误检测为激励光以外的波长成分，因而成为根据测定结果求得的发光量子收率的精度发生降低的原因。 

本发明是为了解决以上的问题而悉心研究的结果，以提供一种能够降低在分光器内所产生的杂散光的影响的分光测定装置、分光测定方法以及分光测定程序为目的。 

解决课题的技术手段