[发明专利]分光测定方法有效

专利信息
申请号: 200980140897.5 申请日: 2009-09-08
公开(公告)号: CN102187203B 公开(公告)日: 2011-09-14
发明(设计)人: 渡边元之;井口和也;铃木健吾 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: G01N21/63 分类号: G01N21/63;G01J3/443
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 分光 测定 方法
【权利要求书】:

1.一种分光测定方法,其特征在于,

是使用分光测定装置,对由分光单元取得的波长光谱进行数据解 析的分光测定方法,

所述分光测定装置具备:

积分球,在内部配置测定对象的试料,并具有用于入射被照射于 所述试料的激励光的入射开口部以及用于出射来自所述试料的被测定 光的出射开口部;以及

所述分光单元,对从所述积分球的所述出射开口部出射的所述被 测定光进行分光并取得其所述波长光谱,

所述分光测定方法具备:

对象区域设定步骤,在所述波长光谱的测定全波长区域中设定对 应于所述激励光的第1对象区域以及作为对应于来自所述试料的发光 并与所述第1对象区域不同的波长区域的第2对象区域;以及

试料信息解析步骤,通过解析在包含所述第1对象区域以及所述 第2对象区域的波长区域中的所述波长光谱,从而求得所述试料的发 光量子收率,

所述试料信息解析步骤将在所述积分球的内部没有所述试料的状 态下供给所述激励光并进行测定的参照测定中所取得的所述第1对象 区域中的测定强度作为IR1、将所述第2对象区域中的测定强度作为IR2、 将所述测定全波长区域中的测定强度作为IR0,将在所述积分球的内部 具有所述试料的状态下供给所述激励光并进行测定的样品测定中所取 得的所述第1对象区域中的测定强度作为IS1、将所述第2对象区域中 的测定强度作为IS2、将所述测定全波长区域中的测定强度作为IS0,此 时,由

φ0=(IS2-IR2)/(IR1-IS1)

求得发光量子收率的测定值φ0,并且将与所述参照测定中的杂散光相 关的系数β、γ定义为

β=IR1/IR0

γ=IR2/IR0

,并由

φ=βφ0

求得发光量子收率的解析值φ。

2.如权利要求1所述的分光测定方法,其特征在于,

所述分光单元具有将所述被测定光分解成波长成分的分光器、以 及具有用于检测由所述分光器分解的所述被测定光的各个波长成分的 多通道的检测部的光检测器,从而被构成为多通道分光器。

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