[发明专利]光电传感器及光电传感器系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种光电传感器及光电传感器系统，根据在投光元件与受光元件之间有检测体时的受光信号电平之差来检测出是否有检测体。

背景技术

在根据投光元件与受光元件之间有检测体时的受光信号电平之差来检测出是否有检测体的光电传感器及光电传感器系统中，成对的投光元件与受光元件一般配置成从投光元件至受光元件的光路与检测体的轴线平行。然而，在检测体的厚度薄的情况下，例如检测体是薄平板的情况下，与检测体的轴线平行的光路不会被该检测体遮挡，因而无法检测出检测体。因此，在日本特开平8-148981号公报(专利文献1)，提出了一种检测方法，在多个投光部与受光部相对向配置的多光轴光电传感器中，利用配置于与发出投光信号的投光部不同的级的受光部来进行检测。

根据此方法，因为从投光部至受光部的光路与水平方向具有角度，即倾斜，所以即使薄平板状的检测体配置成其轴线水平，光路也被检测体遮挡而可实现该检测。

专利文献1：日本特开平8-148981号公报

发明内容

然而，在检测体非常薄的情况下，有该专利文献1所公开的方法也无法检测的情况。此外，即使检测体遮挡光路，如果检测体是半透明，则受光部的受光电平的变化小，受到受光部周边的照明或反射光等干扰的影响，存在检测结果不正确的问题。

因此，本发明的目的在于提供一种光电传感器及光电传感器系统，即使检测体非常薄，也能够不受到外部干扰的影响而正确地检测出检测体。

本发明的第一种光电传感器，具有投光部和受光部，根据受光部的受光信号的强度变化而检测出是否有投光部与受光部之间的检测体。上述受光部接收从上述投光部没有与上述检测体交叉地到达上述受光部的投光信号和从上述投光部与上述检测体交叉地到达上述受光部的投光信号，并与上述投光部的投光定时信号同步动作。并且，比较没有因上述检测体而衰减的受光信号与因上述检测体而衰减的受光信号的电平差，检测出检测体的有无信息。

也可以在上述投光部的投光定时进行上述电平差的比较。

上述受光部具有：第1受光元件，接收从上述投光部不与上述检测体交叉地到达上述受光部的投光信号；和第2受光元件，接收从上述投光部与上述检测体交叉地到达上述受光部的投光信号，上述第1受光元件和第2受光元件与上述投光部的投光定时信号同步动作。并且，对由上述第1受光元件接收的没有因上述检测体而衰减的受光信号、与由上述第2受光元件接收的因上述检测体而衰减的受光信号的电平差进行比较，检测出上述检测体的有无信息。此外，由两个受光元件接收来自一个投光元件的投光信号，在以下的说明有时将此方式称为第一光电传感器。

上述受光部具有：第1投光元件，被配置为投光信号不与上述检测体交叉地到达上述第1受光元件，并与上述检测体交叉地到达上述第2受光元件；和第2投光元件，被配置为投光信号不与上述检测体交叉地到达上述第2受光元件，并与上述检测体交叉地到达上述第1受光元件。此外，将上述第1投光元件与上述第1受光元件的一对、及上述第1投光元件与上述第2受光元件的一对设为第1组，将上述第2投光元件与上述第1受光元件的一对、及上述第2投光元件与上述第2受光元件的一对设为第2组，在上述第1组中，比较没有因上述检测体而衰减的上述第1受光元件的受光信号与因上述检测体而衰减的上述第2受光元件的受光信号的电平差，检测出上述检测体的有无信息，并且，在上述第2组中，比较因上述检测体而衰减的上述第1受光元件的受光信号与没有因上述检测体而衰减的上述第2受光元件的受光信号的电平差，检测出上述检测体的有无信息。并且，根据从上述第1组获得的上述检测体的有无信息和从上述第2组获得的上述检测体的有无信息双重地对照检测出检测体的有无信息。

此时，在上述第1投光元件的投光定时进行上述第1组的上述电平差的比较，并且在上述第2投光元件的投光定时进行上述第2组的上述电平差的比较。

此外，在上述投光部具有第1及第2投光元件，并具有上述第1及第2组的情况下，也可根据在上述第1组获得的上述检测体的有无信息和在上述第2组获得的上述检测体的有无信息双重地对照上述检测体的有无信息，在没有检测出上述检测体的有无的情况下，检测出上述检测体的异常状态及/或传感器故障。并且，也可多级地构成上述光电传感器，检测多个上述检测体，也可共用上述第2组中的上述第2投光元件、及针对另一个检测体的上述第1组中的上述第1投光元件，上述另一个检测体与进行上述第2组的检测的检测体相邻。